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J-GLOBAL ID：201902267436029268   整理番号：19A1555301

100GHzまでの平面相対誘電率センサの測定誤差に及ぼすPCB製造プロセスの影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of the PCB Manufacturing Process on the Measurement Error of Planar Relative Permittivity Sensors Up To 100 GHz

著者 (9件)： Lau Isabella (Institute for Electronics Engineering, Friedrich-Alexander University Erlangen-Nuremberg, Erlangen, Germany) ,  Hajian Ali (Institute of Sensor and Actuator Systems, Vienna University of Technology, Vienna, Austria) ,  Michler Fabian (Institute for Electronics Engineering, Friedrich-Alexander University Erlangen-Nuremberg, Erlangen, Germany) ,  Gold Gerald (Institute of Microwaves and Photonics, Friedrich-Alexander University Erlangen-Nuremberg, Erlangen, Germany) ,  Lurz Fabian (Institute for Electronics Engineering, Friedrich-Alexander University Erlangen-Nuremberg, Erlangen, Germany) ,  Schmid Ulrich (Institute of Sensor and Actuator Systems, Vienna University of Technology, Vienna, Austria) ,  Helmreich Klaus (Institute of Microwaves and Photonics, Friedrich-Alexander University Erlangen-Nuremberg, Erlangen, Germany) ,  Weigel Robert (Institute for Electronics Engineering, Friedrich-Alexander University Erlangen-Nuremberg, Erlangen, Germany) ,  Koelpin Alexander (Chair for Electronics and Sensor Systems, Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg, Cottbus, Germany)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 67  号： 7  ページ： 2793-2804  発行年： 2019年 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プリント基板(PCB)材料の相対誘電率の正確で正確な知識は,高周波回路の信頼できる設計に必須である。単純な理由のために,未知のPCB材料上に直接集積された平面,共鳴誘電率センサが広く使われている。しかし,センサは,銅クラッド積層材料とPCB製造プロセスの非理想性,例えば各金属層の上部と底部の間の粗さの差によって影響を受ける。本論文では,100GHzまでのマイクロストリップと基板集積導波路(SIW)技術における異なるセンサ形状の抽出された相対誘電率値に及ぼすこれらの非理想性の影響を解析した。マイクロストリップ共振器は調べた非理想性に対して非常に敏感である。追加の粗さ測定とより詳細なシミュレーションモデルは,不確実性を著しく減少させることができない。SIW空洞センサはよりロバストで,簡単なモデリング手法は10から100GHzまでの全周波数範囲に対して0.05より小さい低い不確実性をもたらす。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 共鳴 ,  ロバスト性 ,  不確実性 ,  マイクロストリップ線路 ,  *生産工程 ,  *センサ ,  モデリング ,  銅 ,  *誘電率 ,  *測定誤差 ,  プリント基板 ,  シミュレーションモデル ,  積層材料
準シソーラス用語： マイクロストリップ共振器 ,  クラッド層 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： その他の伝送回路素子  (NC04070U)

タイトルに関連する用語 (4件)： 誘電率 ,  測定誤差 ,  PCB ,  製造プロセス