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J-GLOBAL ID：201902267696501667   整理番号：19A2119094

偏光MMW放射測定による材料特性の探査【JST・京大機械翻訳】

Exploring material characteristics by polarimetric MMW radiometry

著者 (2件)： Peichl Markus (Deutsches Zentrum fuer Luft- und Raumfahrt e.V. (Germany)) ,  Dill Stephan (Deutsches Zentrum fuer Luft- und Raumfahrt e.V. (Germany))
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 10994  ページ： 109940H-9  発行年： 2019年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誘電体材料の特性化は多くの応用にとって非常に重要であり,例えば製品製造の間の品質管理または時間にわたる外部構造の状態制御のためである。多くの外部状況において,関心の対象物は限られたアクセシビリティを持っており,研究は対象物のいかなる部分の破壊もなく,オペレータに対するいかなる健康リスクもなしに行われなければならない。したがって,スタンドオフ位置からのリモートセンシングはしばしば望ましく,マイクロ波,ミリ波またはTHz波の使用は,その化学的および物理的分解,およびコース周波数と分極に依存して,いくつかの浸透能力を物質に提供する。興味のある多くの対象は誘電体被覆またはエンクロージャから成り,電気磁気的に誘電体層状構造または空気で囲まれた誘電体スラブとして取り扱うことができる。前者の研究では,線形偏光Kaバンド放射計を,近接場スキャナのアンテナに電子的に操縦可能な偏光回転子を介して接続した。この装置を用いて,4つの線形偏光状態を時間多重で実現し,近接物体の対応する輝度温度を各シーン点に対して測定した。次に,誘電率の実数部の推定を,傾斜誘電体表面上の入射放射に対する放射測定比偏光測定モデリングと対応する検索計算を用いて,それらの値から抽出した。新しい実験では,偏光子を簡単な導波路部分で置き換え,4つの必要な線形偏光状態を与えた。さらに,種々の興味深いコンテンツの大きなシーンの画像化を可能にするために,遠視野スキャナを用いた。本論文では,このアプローチの理論的背景を簡単に概説し,新しい測定結果を検討した。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： モデリング ,  *偏光 ,  被覆 ,  アンテナ ,  近接場 ,  誘電率 ,  テラヘルツ波 ,  画像処理 ,  誘電体 ,  キャラクタリゼーション ,  走査装置 ,  遠視野 ,  多重化 ,  EHF波 ,  リモートセンシング ,  線形性

分類 (3件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  量子光学一般  (BD04010X) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 偏光 ,  放射測定 ,  材料特性 ,  探査