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J-GLOBAL ID：201902267757197005   整理番号：19A1805548

X線光電子分光定量に及ぼす非理想ナノ粒子の影響:金ナノ粒子のシミュレーションとモデリングを用いた研究【JST・京大機械翻訳】

Impact of Nonideal Nanoparticles on X-ray Photoelectron Spectroscopic Quantitation: An Investigation Using Simulation and Modeling of Gold Nanoparticles

著者 (3件)： Sahoo Smruti R. (Department of Physics, National Dong Hwa University, Taiwan) ,  Ramacharyulu P. V. R. K. (Department of Physics, National Dong Hwa University, Taiwan) ,  Ke Shyue-Chu (Department of Physics, National Dong Hwa University, Taiwan)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 90  号： 3  ページ： 1621-1627  発行年： 2018年 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光電子のスペクトルモデリングと組み合わせた定量的X線光電子分光(XPS)分析は,異なる形態を持つナノ粒子(NPs)の表面化学を調べるのに有用である。ここでは,表面分析(SESSA)のためのElectronスペクトルのNISTシミュレーションの使用により,異なる形態の金ナノ粒子(AuNP)における実験的およびシミュレートされた光電子ピーク強度の比較分析を提示した。異なる形態を有する3セットの担持AuNPを,一連の合成Au-TiO_2触媒サンプルから選択した。透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて,SESSAにおける入力モデルパラメータとしてAuNP上の形態情報を解析し,XPSスペクトルをそれぞれの入力NP形態から発生させた。SESSAシミュレーションと実験的XPSスペクトルの間のより大きな不整合が観察されたが,TEMを用いるとナノ粒子の平均直径が得られた。TEM画像から得られたナノ粒子の真の非球状形状がシミュレーションのために考慮されたとき,不整合の程度は低下した。これは,担持ナノ粒子から正確な定量化情報を得るために組み込まれる必要があるXPSピーク強度に及ぼす表面形態の影響を実証した。本研究は,複雑な非理想形状ナノ粒子からのXPSスペクトルの正確な定量のための実験的XPSおよびTEM測定と組み合わせたSESSAの適用性を実証した。本研究は,理想的または非理想的形状を有する広範囲のナノ粒子を含むように拡張することができ,したがって,広範囲のナノ材料への定量的XPS分析を利用するための簡単な方法を提供する。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線光電子スペクトル ,  *ナノ粒子 ,  *光電子 ,  透過型電子顕微鏡 ,  *シミュレーション ,  不整合 ,  表面分析 ,  *X線光電子分光法 ,  触媒 ,  画像 ,  *モデリング ,  スペクトル ,  ナノ材料
準シソーラス用語： 表面形態 ,  ピーク強度 ,  *金ナノ粒子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  計算機シミュレーション  (JE11000H)

タイトルに関連する用語 (7件)： X線光電子分光 ,  定量 ,  ナノ粒子 ,  金ナノ粒子 ,  シミュレーション ,  モデリング ,  研究