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J-GLOBAL ID：201902268831817809   整理番号：19A2620368

グラフェン膜に印加された歪みの解析

著者 (6件)： 中川魁斗 (大府大 院) ,  佐藤和郎 (大阪技術研) ,  村上修一 (大阪技術研) ,  竹井邦晴 (大府大 院) ,  秋田成司 (大府大 院) ,  有江隆之 (大府大 院)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 80th  ページ： ROMBUNNO.21a-PB1-52  発行年： 2019年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： はじめに グラフェンに歪みを印加すると、電気的、熱的特性が変化することが知られている。例えば我々は、グラフェンの熱キャリアがフォノンであることに着目し、歪みを印加することで熱伝導率が低下することを報告した[1]。グラフェン面内の歪みを詳細に...【本文一部表示】

シソーラス用語： *グラフェン ,  *歪 ,  ウエハ【IC】 ,  ケイ素 ,  Raman分光法 ,  剥離 ,  原子間力顕微鏡 ,  シリコンウエハ

分類 (1件)： 炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： グラフェン膜 ,  印加 ,  歪み ,  解析