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J-GLOBAL ID：201902269125918474   整理番号：19A1463953

ナノワイヤ超インダクタンス磁束量子ビット【JST・京大機械翻訳】

Nanowire Superinductance Fluxonium Qubit

著者 (8件)： Hazard T. M. (Department of Electrical Engineering, Princeton University, Princeton, New Jersey 08544, USA) ,  Gyenis A. (Department of Electrical Engineering, Princeton University, Princeton, New Jersey 08544, USA) ,  Di Paolo A. (Department of Electrical Engineering, Princeton University, Princeton, New Jersey 08544, USA) ,  Asfaw A. T. (Department of Electrical Engineering, Princeton University, Princeton, New Jersey 08544, USA) ,  Lyon S. A. (Department of Electrical Engineering, Princeton University, Princeton, New Jersey 08544, USA) ,  Blais A. (Institut quantique and Departement de Physique, Universite de Sherbrooke, Sherbrooke J1K 2R1 Quebec, Canada) ,  Blais A. (Canadian Institute for Advanced Research, Toronto, M5G 1M1 Ontario, Canada) ,  Houck A. A. (Department of Electrical Engineering, Princeton University, Princeton, New Jersey 08544, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 122  号： 1  ページ： 010504  発行年： 2019年 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： NbTiNナノワイヤ超インダクタンスにより誘導されたJosephson接合から成るフルキソニウム量子ビットを特性化した。超インダクタンスの分布特性とJosephsonポテンシャルにおけるすべての次数に対する回路非線形性の効果を考慮した多モード理論により測定したエネルギースペクトルを説明した。多光子Raman分光法を用いて,多重フラックスニウム遷移を扱い,多準位Autler-Townes分裂を観測し,[数式:原文を参照]の励起状態寿命を測定した。異なる磁束値で[数式:原文を参照]を測定することにより,容量から誘導損失への寿命制限機構におけるクロスオーバを見出した。Copyright 2019 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *磁束 ,  励起状態 ,  Raman分光法 ,  キャラクタリゼーション ,  エネルギー分布 ,  *ナノワイヤ ,  光子 ,  多重化 ,  Josephson接合 ,  非線形性 ,  *インダクタンス ,  モード理論
準シソーラス用語： クロスオーバー ,  次数 ,  *量子ビット , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電磁場と統一ゲージ場  (BF02020A) ,  非線形光学  (BD05000T)

タイトルに関連する用語 (3件)： ナノワイヤ ,  インダクタンス ,  磁束量子ビット