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J-GLOBAL ID:201902270818750232   整理番号:19A0981256

Al_2O_3:Cr_2O_3薄膜の光学特性に及ぼすスパッタリングパワーと基板温度の影響【JST・京大機械翻訳】

Effects of Sputtering Power and Substrate Temperature on the Optical Properties of Al2O3:Cr2O3 Thin Films
著者 (3件):
資料名:
巻:号: P2  ページ: 193-198  発行年: 2019年 
JST資料番号: W3531A  ISSN: 2214-7853  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,高周波(RF)マグネトロンスパッタリング法によりガラス基板上に堆積したAl_2O_3:Cr_2O_3薄膜の光学特性におけるRFスパッタリングパワーと基板温度誘起変化について報告した。膜は100と150WのRFパワーと室温と200°Cの基板温度で堆積した。膜の光学特性をUV-Vis-NIR分光光度計により特性化した。作製した膜の透過率はRFパワーと基板温度の増加と共に減少することを観測した。光透過率データから,蒸着膜の吸収係数,屈折率,消衰係数,誘電率(実部及び虚部)及び光学伝導率のような種々の光学パラメータを計算し,RFパワー及び基板温度によるそれらの変化を論じた。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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