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J-GLOBAL ID：201902271786733482   整理番号：19A0658778

電極触媒金属酸化物膜の膜厚と金属負荷の迅速定量化【JST・京大機械翻訳】

Rapid Quantification of Film Thickness and Metal Loading for Electrocatalytic Metal Oxide Films

著者 (7件)： Dettelbach Kevan E. (Department of Chemistry, The University of British Columbia, BC, Canada) ,  Kolbeck Michael (Department of Chemistry, The University of British Columbia, BC, Canada) ,  Huang Aoxue (Department of Chemistry, The University of British Columbia, BC, Canada) ,  He Jingfu (Department of Chemistry, The University of British Columbia, BC, Canada) ,  Berlinguette Curtis P. (Department of Chemistry, The University of British Columbia, BC, Canada) ,  Berlinguette Curtis P. (Stewart Blusson Quantum Matter Institute, The University of British Columbia, BC, Canada) ,  Berlinguette Curtis P. (Department of Chemical & Biological Engineering, The University of British Columbia, BC, Canada)
資料名： Chemistry of Materials  (Chemistry of Materials)
巻： 29  号： 17  ページ： 7272-7277  発行年： 2017年 
JST資料番号： T0893A  ISSN： 0897-4756  CODEN： CMATEX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 太陽燃料電極触媒に広く使われている非晶質ニッケル,鉄,および酸化イリジウム膜の厚さと金属負荷を,断面走査電子顕微鏡(SEM)とX線蛍光(XRF)分光測定によって決定した。光堆積法を用いて10から400nmまで系統的に変化させた一連の膜に対する厚さを,関連触媒層を成功裏に分解するプロトコルを用いて断面SEMにより正確に測定した。各膜について記録されたXRF測定は,断面SEMにより決定された厚さと強い線形相関(R2>0.97)を与えた。電気触媒コミュニティで広く使われている技術である二重層静電容量測定によって決定した電気化学的表面積(ECSAs)は,酸化イリジウム膜厚に対して線形関係を示したが,ニッケルと鉄からなるものとは異なっていた。これらの結果は,触媒膜厚と金属負荷を決定するためにECSAを使用することの限界を強調する。非侵襲XRF法は,薄い金属酸化物膜の厚さと負荷を報告するための非常に優れた方法であることを実証した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 線形性 ,  *迅速分析 ,  *膜厚 ,  *触媒 ,  走査電子顕微鏡 ,  非晶質 ,  電気化学 ,  *電極触媒 ,  酸化イリジウム ,  電子顕微鏡観察 ,  ニッケル ,  表面積 ,  蛍光 ,  鉄
準シソーラス用語： 非侵襲 ,  二重層 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  塩基,金属酸化物  (CD01030Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電極触媒 ,  金属酸化物膜 ,  膜厚 ,  迅速定量