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J-GLOBAL ID：201902272038603205   整理番号：19A0183280

広帯域プラズモン共鳴吸収体による二次Electronクローキング【JST・京大機械翻訳】

Secondary Electron Cloaking with Broadband Plasmonic Resonant Absorbers

著者 (4件)： Cohen Moshik (Faculty of Engineering, Bar-Ilan University, Israel) ,  Cohen Moshik (Bar-Ilan Institute for Nanotechnology & Advanced Materials, Israel) ,  Salomon Adi (Department of Chemistry, Bar-Ilan University, Israel) ,  Salomon Adi (Bar-Ilan Institute for Nanotechnology & Advanced Materials, Israel)
資料名： Journal of Physical Chemistry Letters  (Journal of Physical Chemistry Letters)
巻： 8  号： 16  ページ： 3912-3916  発行年： 2017年 
JST資料番号： W3687A  ISSN： 1948-7185  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査電子顕微鏡(SEM)はナノスケール検査と画像化のための最も強力なツールの一つである。それは,生物医学,材料科学,ナノテクノロジーに広く使用され,光学回折限界を超えて空間分解能を可能にする。SEMにおいて,高エネルギー電子ビームは試料を照射し,放出された二次電子は画像生成のために正にバイアスされた同期検出器にルーティングされる。ここでは,初めて,二次電子画像から金属物体のクローキングを実験的に実証した。直径300nmの金属ディスクを<5nmの空間分解能で二次電子検出器にほとんど見えないようにした。二次電子クローキングは近接場における広帯域光放射吸収に基づいている。二次電子像は,光周波数におけるMaxwell方程式の全波数値解と良く一致し,広帯域光放射吸収に基づく二次電子クローキングの概念を確認した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *プラズマ共鳴 ,  Maxwell方程式 ,  近接場 ,  数値解法 ,  *広帯域 ,  円板 ,  画像 ,  走査電子顕微鏡 ,  画像処理 ,  ナノテクノロジー ,  空間分解能 ,  光照射 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： 二次電子 ,  回折限界 ,  画像化 ,  ナノスケール , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 広帯域 ,  プラズモン共鳴 ,  吸収体