文献

J-GLOBAL ID：201902272674135491   整理番号：19A1740795

XFELによる単一Xeナノ粒子内部の積層欠陥の評価

著者 (42件)： 仁王頭明伸 (京大 大学院) ,  仁王頭明伸 (理研 RSC) ,  熊谷嘉晃 (東北大 多元物質科研) ,  西山俊幸 (京大 大学院) ,  西山俊幸 (理研 RSC) ,  福澤宏宣 (理研 RSC) ,  福澤宏宣 (東北大 多元物質科研) ,  本村幸治 (東北大 多元物質科研) ,  BUCHER Max (アルゴンヌ国研) ,  伊藤雄太 (東北大 多元物質科研) ,  高梨司 (東北大 多元物質科研) ,  浅和貴 (京大 大学院) ,  浅和貴 (理研 RSC) ,  佐藤由比呂 (京大 大学院) ,  佐藤由比呂 (理研 RSC) ,  YOU Daehyun (東北大 多元物質科研) ,  小野太詩 (東北大 多元物質科研) ,  LI Yiwen (東北大 多元物質科研) ,  KUKK Edwin (トゥルク大) ,  MIRON Catalin (SOLEIL) ,  MIRON Catalin (ELI-NP) ,  NEAGU Liviu (ELI-NP) ,  CALLEGARI Carlo (ELETTRA) ,  FRAIA Michele (ELETTRA) ,  ROSSI Giorgio (ミラノ大) ,  GALLI Davide (ミラノ大) ,  PINCELLI Tomasso (ミラノ大) ,  COLOMBO Alessandro (ミラノ大) ,  亀島敬 (JASRI) ,  城地保昌 (JASRI) ,  富樫格 (JASRI) ,  初井宇記 (理研 RSC) ,  大和田成起 (理研 RSC) ,  片山哲夫 (JASRI) ,  登野健介 (JASRI) ,  矢橋牧名 (理研 RSC) ,  松田和博 (京大 大学院) ,  BOSTEDT Christoph (アルゴンヌ国研) ,  永谷清信 (京大 大学院) ,  永谷清信 (理研 RSC) ,  上田潔 (理研 RSC) ,  上田潔 (東北大 多元物質科研)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 74  号： 1  ページ： ROMBUNNO.17aK201-10  発行年： 2019年03月22日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 近年、短パルスかつコヒーレントなX線自由電子レーザー(XFEL)の出現により、単一のナノ粒子を標的としたX線回折実験が可能となっている。ナノ粒子の物性はそのサイズや形状、結晶構造に強く依存することが知られており、XFELを利用した単一粒子の...【本文一部表示】

シソーラス用語： *X線自由電子レーザ ,  *ナノ粒子 ,  *X線回折 ,  *キセノン ,  *粒子 ,  *積層欠陥 ,  結晶格子 ,  写真 ,  *単一粒子 ,  面心立方格子 ,  *格子欠陥
準シソーラス用語： FCC格子 ,  ストリーク写真 ,  欠陥分布

分類 (2件)： 非金属元素とその化合物の結晶構造  (BK07010N) ,  その他の無機化合物の格子欠陥  (BK12050B)

タイトルに関連する用語 (5件)： XFEL ,  Xe ,  ナノ粒子 ,  積層欠陥 ,  評価