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J-GLOBAL ID:201902273045039963   整理番号:19A1809760

薄膜,導電性,および耐ファウリング性高分子膜の化学蒸着【JST・京大機械翻訳】

Chemical Vapor Deposition of Thin, Conductive, and Fouling-Resistant Polymeric Films
著者 (3件):
資料名:
巻: 33  号: 40  ページ: 10623-10631  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0231B  ISSN: 0743-7463  CODEN: LANGD5  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ファウリングは膜分離から生物医学的注入までの範囲の応用の中で持続的な問題である。現在までの研究は,電気伝導率が不要な耐ファウリング性コーティングに焦点を当てている。本研究では,分離膜の電解に基づく自己洗浄およびバイオエレクトロニクスの分野におけるそれらの潜在的応用のために,ファウリング抵抗と電気伝導率の両方を有する多機能薄膜の合成を報告する。このユニークな性質の組合せにより,酸化化学蒸着(oCVD)により合成された本質的に導電性の高分子ポリ-(3,4-エチル-エン-ジ-オキシ-チオ-フェン(PEDOT)の双性イオン誘導体である多機能被覆が得られる。それらのファウリング抵抗は,ポリ-(4-ビニル-ピリジン)-co-ジ-ビニル-ベンゼン(p4VP-DVB)誘導双性イオン被覆,両親媒性ポリ-(1H,1H,2H,2H-per-フルオロ-デシルアクリラート-co-2-ヒドロキシ-エチルメタクリル酸エステル(pPFDA-HEMA)被覆,ガラス表面のような既知の誘電汚損抵抗表面のそれと同等であることを示し,金またはポリ-ジメチル-シロキサン(PDMS)表面のファウリング抵抗よりはるかに優れている。7つの表面のファウリング抵抗を分子力プローブ(MFP)分析によって定量的に特性化した。加えて,四点プローブ電気測定,Fourier変換赤外分光法(FTIR),X線光電子分光法(XPS),可変角度分光偏光解析法(VASE),形状測定,水接触角(WCA)測定,表面ζ電位測定,原子間力顕微鏡(AFM)を用いて,異なる表面の物理化学的性質と形態を特性化した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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高分子固体のその他の性質  ,  固-液界面 
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