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J-GLOBAL ID：201902274756396481   整理番号：19A0026401

振幅分割回折格子ビームスプリッタによる同調可能な経路分離電子干渉計【JST・京大機械翻訳】

A tunable path-separated electron interferometer with an amplitude-dividing grating beamsplitter

著者 (6件)： Yasin Fehmi S. (Department of Physics, 120 Willamette Hall, 1371 E 13th Avenue, Eugene, Oregon 97403, USA) ,  Harada Ken (RIKEN Center for Emergent Matter Science (CEMS), Hatoyama 350-0321, Japan) ,  Shindo Daisuke (RIKEN Center for Emergent Matter Science (CEMS), Hatoyama 350-0321, Japan) ,  Shinada Hiroyuki (Research and Development Group, Hitachi Ltd., Hatoyama 350-0321, Japan) ,  McMorran Benjamin J. (Department of Physics, 120 Willamette Hall, 1371 E 13th Avenue, Eugene, Oregon 97403, USA) ,  Tanigaki Toshiaki (Research and Development Group, Hitachi Ltd., Hatoyama 350-0321, Japan)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 113  号： 23  ページ： 233102-233102-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多重空間孤立したコヒーレント電子プローブビームを調製するために,単一振幅分割ビームスプリッタを用いた可変同調経路分離電子干渉計を実証した。走査透過型電子顕微鏡(STEM)の光学カラムにおいて4つの静電双プリズムを置き,最大25μmまでの経路分離を達成し,振幅分割電子干渉計内で最大になり,検出器で直接観測された干渉縞の可視性を維持した。この装置の干渉縞の可視性を,一連の経路分離にわたって特性化し,作製したSiランプ試験位相物体の完全物体波を再構成するために,STEMホログラフィーを実行した。この構成における定量的な物体波測定を報告し,独立した軸外電子ホログラフィー測定により確認した。この実験計画は,電子波束コヒーレンス長とAharonov-Bohm効果の探査のような高分解能位相イメージングと基礎物理実験に適用できる。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *ビームスプリッタ ,  *回折格子 ,  ホログラフィー ,  ケイ素 ,  *同調 ,  検出器 ,  多重化 ,  プリズム ,  キャラクタリゼーション ,  コヒーレンス ,  可視度 ,  *干渉計 ,  高分解能 ,  再構成 ,  干渉縞

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 回折格子 ,  ビームスプリッタ ,  同調 ,  経路 ,  電子 ,  干渉計