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J-GLOBAL ID：201902275415015964   整理番号：19A2686162

直接及び交流液体電極プラズマ原子発光分析における低チャネル損傷に対する導入気泡の影響に関する研究

Study on effect of introduced gas bubbles for the low channel damage in direct and alternating current liquid electrode plasma atomic emission spectrometry

著者 (5件)： RUENGPIRASIRI Prasongporn (Japan Advanced Inst. of Sci. and Technol., Ishikawa, JPN) ,  TUE Phan Trong (Tokyo Inst. of Technol., Kanagawa, JPN) ,  MIYAHARA Hidekazu (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  OKINO Akitoshi (Tokyo Inst. of Technol., Kanagawa, JPN) ,  TAKAMURA Yuzuru (Japan Advanced Inst. of Sci. and Technol., Ishikawa, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 58  号： 9  ページ： 097001.1-097001.7  発行年： 2019年09月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 液体電極プラズマ(LEP)は,プラズマによるチャネル損傷が感度と寿命の間の厳しいトレードオフを引き起こす,コンパクトで敏感な元素分析のための励起源として使用される。交流(AC)-LEPにおいて,直接電流LEP(DC-LEP)と比較して有意に少ないチャネル損傷(1/3000)を報告した。しかし,その機構は明確ではない。本論文では,AC-LEPとDC-LEPへの外部ガス導入の影響を研究した。結果は,外部気泡が安定で高感度のプラズマ発生を容易にし,低電力で,チャネル損傷を低減し,解析チップの寿命を増加させることを示した。これらの効果はAr導入とAC-LEPの場合有意である。この事実は,ガス導入なしの従来のAC-LEPにおける低い損傷は,電極での加水分解により発生したH₂/O₂気泡に起因し,その結果,狭いチャネルの外側からLEPに導入されることを示唆した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *原子発光分析 ,  *元素分析 ,  気泡 ,  加水分解 ,  チャネル ,  プラズマ源 ,  プラズマ生成 ,  交流 ,  安定性 ,  高感度 ,  消費電力
準シソーラス用語： *液体電極プラズマ原子発光分析法 ,  低電力化

分類 (1件)： プラズマ生成・加熱  (BJ02060E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 交流 ,  液体電極プラズマ原子発光分析 ,  チャネル ,  損傷 ,  気泡 ,  研究