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J-GLOBAL ID：201902275820101737   整理番号：19A1447739

組込機器のセキュリティを脅かすレーザーフォールト攻撃

An Introduction to Laser Fault Injection Attack against Secure Embedded Devices

著者 (2件)： 菅原健 (電通大) ,  崎山一男 (電通大)
資料名： レーザー研究  (レーザー学会誌)
巻： 47  号： 6  ページ： 305-309  発行年： 2019年06月20日 
JST資料番号： X0335A  ISSN： 0387-0200  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： フォールトインジェクション攻撃は,組込機器のセキュリティに対する重大な脅威である。フォールトインジェクション攻撃において,敵対者が標的の組込機器に物理的ストレスを加え,計算上のフォールトを引き起こし,そしてその誤った計算結果を悪用して,システムのセキュリティを破る。レーザはそのような物理的ストレスを与える有効な方法であり,レーザフォールトインジェクション攻撃は過去10年間にわたって精査されてきた。本稿では,レーザ分野における研究者や実務者に対して,レーザフォールトインジェクション攻撃について説明し,以下の3つの主要な話題,(i)組込機器に関する一般的物理的攻撃,(ii)レーザインジェクションが計算上のフォールトを引き起こす機構,(iii)フォールトインジェクション攻撃の試みを検出するセンサベースの対策などを説明した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： システムインタフェイス ,  *セキュリティ ,  *レーザ応用 ,  フォールトトレランス ,  データ保護 ,  *組込みシステム ,  放射場 ,  故障解析 ,  センサ ,  サイバー攻撃 ,  故障注入 ,  レーザ電磁場
準シソーラス用語： レーザ場 ,  攻撃【情報】 ,  *組込み機器

分類 (2件)： レーザの応用  (BD04100V) ,  データ保護  (JD01020V)

引用文献 (11件)：

• M. Joye and M. Tunstall: Fault Analysis in Cryptography (Springer-Verlag, Berlin, 2012).
• S. Mangard, E. Oswald, and T. Popp: Power Analysis Attacks - Revealing the Secrets of Smart Card(Springer-Verlag, Berlin, 2007).
• J.-M. Dutertre, V. Beroulle, P. Candelier, S. De Castro, L.-B Faber, M.-L. Flottes, P. Gendrier, D. Hely, R. Leveugle, P. Maistri, G. Di Natale, A. Papadimitriou, and B. Rouzeyre: Proc. 2018 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (2018) p.1.
• Renesas Technology Corporation: IC Card System Using Photo-Detectors for Protection (US Patent US7042752, 2003).
• E. H. Neto, I. Ribeiro, M. G. Vieira, G. I. Wirth, and F. L. Kastensmidt: IEEE Micro 26 (2006) 10.

タイトルに関連する用語 (4件)： 組込機器 ,  セキュリティ ,  レーザー ,  攻撃