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J-GLOBAL ID：201902276097021407   整理番号：19A2567265

二元状態表面による圧縮マイクロ波単一画素イメージャ【JST・京大機械翻訳】

A Compressive Microwave Single-Pixel Imager via Binary-State Surfaces

著者 (5件)： Alqadah Hatim F. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington D.C., USA) ,  Bobak Justin P. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington D.C., USA) ,  Rudolph Scott M. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington D.C., USA) ,  Nurnberger Michael W. (U.S. Naval Research Laboratory, Washington D.C., USA) ,  Truesdale David (U.S. Naval Research Laboratory, Washington D.C., USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： ICEAA  ページ： 0943-0947  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,二値状態要素(BSE)の再構成可能反射アレイを用いて実装した単一画素マイクロ波放射測定システムに向けた進歩を報告した。BSEは,放射計に向かって投射する前に,入射場をランダムに変調するために使用される。次に,シーンの再構成を,一次反復凸計画法アルゴリズムを通して達成した。変調パターンの設計を記述し,モデル化輝度温度データを用いて適切なスパース性促進基底を調べた。次に,提案した手法の画像再構成結果を,反射アレイの計算電磁シミュレーションを用いて実証した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *画素 ,  画像再構成 ,  計測システム ,  輝度温度 ,  再構成 ,  モデリング ,  基底 ,  *マイクロ波 ,  凸計画法 ,  *撮像装置 ,  アルゴリズム
準シソーラス用語： 電磁界数値解析 ,  スパース性 ,  マイクロ波放射 ,  再構成可能性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： アンテナ  (ND06000M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 状態表 ,  マイクロ波 ,  画素 ,  イメージャ