文献

J-GLOBAL ID：201902279411626138   整理番号：19A1254010

加速劣化試験中のLEDに及ぼす影響【JST・京大機械翻訳】

Effects on LEDs during the Accelerated Ageing Test

著者 (4件)： Becirovic V. (Faculty of Electrical Engineering Sarajevo, University of Sarajevo, Sarajevo, Bosnia and Herzegovina) ,  Helac V. (Faculty of Electrical Engineering Sarajevo, University of Sarajevo, Sarajevo, Bosnia and Herzegovina) ,  Arslanagic B. (Faculty of Electrical Engineering Sarajevo, University of Sarajevo, Sarajevo, Bosnia and Herzegovina) ,  Samic H. (Faculty of Electrical Engineering Sarajevo, University of Sarajevo, Sarajevo, Bosnia and Herzegovina)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： INFOTEH  ページ： 1-6  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 過去10年間におけるLED技術の進歩は,完全に他の光技術を将来に置いた。導いたものはほとんど全ての寿命に入った。LED技術を用いる製品になると,最も重要な課題の一つは寿命である。本論文では,LED部品とLED素子を持つ製品の寿命試験の分野における研究の詳細な概観を含む。本論文では,加速LED時効試験のための数学モデルを示した。一定温度と定電流による時効試験を分析した。本論文では,製品におけるLEDの寿命の単純化モデルを提案した。LEDベース技術による製品のいくつかの試料を試験した結果を示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 数学モデル ,  簡素化 ,  寿命試験 ,  電流 ,  発光ダイオード ,  *時効
準シソーラス用語： 光技術 ,  *加速劣化試験 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  電力変換器  (NB08030B) ,  医用画像処理  (JE04020T) ,  光源,照明器具  (NB12020F) ,  NMR一般  (BM07041R)

タイトルに関連する用語 (2件)： 加速劣化試験 ,  LED