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J-GLOBAL ID:201902280111246686   整理番号:19A1386838

POSTER 生産環境における構成インスタンスの再試験-テストスイートを減らすための方法【JST・京大機械翻訳】

Poster: Re-Testing Configured Instances in the Production Environment - A Method for Reducing the Test Suite
著者 (4件):
資料名:
巻: 2019  号: ICST  ページ: 367-370  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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構成は,構成可能なシステムの挙動と操作において重要な役割を果たす。展開に先立ち,開発環境において構成システムを試験した。しかし,開発環境と生産環境の違いにより,システムの構成は生産環境に適応する必要がある。したがって,生産環境における構成システムを再テストすることは重要である。システムは既に開発環境でテストされているので,すべてのテストケースを再適用することを避ける必要があり,可能な限り生産環境において使用されるテストセットを減らすことが望ましい。これは本論文で提案した方法の目標である。このために,開発環境で使用される構成と試験事例を除去するための生産環境に対する構成の間の類似性を調べた。実際に,2つの構成の間の差異は,環境レベルだけで,すなわち,システムとその環境の間の相互作用に影響を及ぼす構成パラメータだけが,生産環境における配置のために変化した。著者らは,構成パラメータ(環境への依存性に基づく)の分類に基づく方法を提案して,それを使用して,生産環境においてそれを再適用する前に,開発時間試験一式を減少させた。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
分類
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図形・画像処理一般  ,  電子航法一般  ,  パターン認識  ,  電力系統一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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