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J-GLOBAL ID：201902280133175819   整理番号：19A0801101

SOI画素検出器を用いたDebyeリング計測システムの開発【JST・京大機械翻訳】

Development of Debye-ring measurement system using SOI pixel detector

著者 (5件)： Mitsui S. (Venture Business Laboratory, Organization of Frontier Science and Innovation, Kanazawa University, Kakumamachi, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan) ,  Sasaki T. (Human Science, Human and Socio-Environmental Studies, Kanazawa University, Kakumamachi, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan) ,  Arai Y. (Institute of Particle and Nuclear Studies, High Energy Accelerator Research Organization, 1-1 Oho, Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan) ,  Miyoshi T. (Institute of Particle and Nuclear Studies, High Energy Accelerator Research Organization, 1-1 Oho, Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan) ,  Nishimura R. (School of High Energy Accelerator Science, The Graduate University for Advanced Studies, 1-1 Oho, Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 924  ページ： 441-447  発行年： 2019年 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 製造された金属製品の製造のための現在の工業サイトでは,完全な非破壊,残留応力と硬度の非接触検査が必要である。しかし,従来のDebyeリング測定システムは,測定時間が長いため,サンプリング検査や研究にのみ使用されている。そこで,工業目的の材料特性を評価できる集積型シリコン-オン-インシュレータ(SOI)画素検出器(INTPIX4)を用いた高速Debyeリング測定システムを開発した。INTPIX4は832×512画素のX線撮像装置であり,各画素のサイズは17μm×17μmである。SiTCP2(SEABAS2)を用いたSOI評価ボードを用いることにより,1秒で45倍までのDebyeリングを測定することが可能である。開発したシステムは,2個のINTPIX4検出器とコンパクトな高出力X線管を用いた小型で高速のDebyeリング測定システムである。このシステムの性能を評価した。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線管 ,  *計測システム ,  残留応力 ,  高速度 ,  ラジオグラフィー ,  硬度 ,  X線 ,  *画素 ,  金属製品 ,  *検出器
準シソーラス用語： 高出力 ,  評価ボード ,  材料特性 ,  測定時間 ,  非接触 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： Debyeリング測定 ,  X線残留応力測定 ,  SOI画素検出器 ,  INTPIX4 ,  シーバス ,  COS α法

分類 (1件)： 円形加速器  (BE02020X)

タイトルに関連する用語 (5件)： SOI ,  画素 ,  検出器 ,  計測システム ,  開発