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J-GLOBAL ID:201902280374069069   整理番号:19A1644294

原子間力顕微鏡を用いたチップ制御局所破壊によるナノポア形成【JST・京大機械翻訳】

Nanopore Formation via Tip-Controlled Local Breakdown Using an Atomic Force Microscope
著者 (9件):
資料名:
巻:号:ページ: e1900147  発行年: 2019年 
JST資料番号: W3681A  ISSN: 2366-9608  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ナノ細孔形成のための絶縁破壊アプローチは,固体ナノ細孔センシングにおける研究のペースを大きく加速し,ベンチトップセットアップによるナノ細孔の安価な形成を可能にした。ここでは,原子間力顕微鏡(AFM)を用いて,高いスケーラビリティとナノメートル位置決め精度を有する,100×より速い細孔を作製するためのチップ制御局所破壊(TCLB)の可能性を実証した。導電性AFMチップを電解質貯留層上に位置する窒化ケイ素膜と接触させた。チップに電圧パルスを印加すると,単一のナノスケール細孔が形成される。細孔は,多重細孔形成の完全な抑制により,先端位置で正確に形成された。さらに,このアプローチは電気破壊プロセスを大きく加速し,10msのオーダーで平均細孔作製時間をもたらし,古典的な絶縁破壊アプローチにより達成されるよりも少なくとも2桁短い。この高速細孔書込み速度は,300以上の細孔を同じ膜上で1時間半で作製できた。Copyright 2019 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
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二次電池  ,  遺伝子の複製  ,  先天性疾患・奇形一般  ,  電気化学反応  ,  運動器系の基礎医学 
タイトルに関連する用語 (4件):
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