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J-GLOBAL ID:201902281621647821   整理番号:19A2652412

3つの安定な抵抗状態を持つグラフェン-ホウ素ニトリド-グラフェン交差点メモリスタ【JST・京大機械翻訳】

Graphene-Boron Nitride-Graphene Cross-Point Memristors with Three Stable Resistive States
著者 (13件):
資料名:
巻: 11  号: 41  ページ: 37999-38005  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2329A  ISSN: 1944-8244  CODEN: AAMICK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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二次元(2D)材料に基づくメムリスタは,高い透明性,ロバストな機械的強度と柔軟性,超高い化学的安定性,増強した熱放熱,超低電力消費,バイポーラと閾値抵抗スイッチングの共存,および超安定緩和のようないくつかの特性を示した。しかし,高密度情報貯蔵のための多重安定抵抗状態の発生のようなメムリスティブ応用においてしばしば必要とされるいくつかの電気的性能はまだ実証されていない。ここでは,3つの安定で識別可能な抵抗状態を示す最初の2D材料ベースのメムリスタを示した。多層グラフェン(G)電極に挟まれた多層六方晶窒化ホウ素(h-BN)スタックを用いて,電流制限(CL)と使用したリセット電圧に依存して,各二つまたは三つの抵抗状態間でスイッチできる5μm×5μm交差点Au/Ti//h-BN/G/Auメムリスタを作製した。グラフェン電極と小さな交差点構造の使用は,同じAu/Ti/G/h-BN/G/Au構造を持つより大きな(100μm×100μm)デバイスでは観察されなかった,またはグラフェン界面層のない類似の小さい(5μm×5μm)デバイスで観察されなかった三状態動作を観察するための重要な要素である。基本的に,高抵抗状態と低抵抗状態(LRS)の間の中間状態を生成し,ソフトLRS(S-LRS)と名付けた。これは,グラフェンが金属侵入を制限する能力(低CLで)のため,h-BNを横切る狭い導電性ナノフィラメントの形成に関連している可能性がある。すべての2D材料は,機械的に剥離した2D材料を用いた他の研究と比較して,拡張可能な化学蒸着法を用いて作製した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (3件):
分類
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固体デバイス材料  ,  原子・分子のクラスタ  ,  半導体集積回路 
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