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J-GLOBAL ID：201902281890635933   整理番号：19A1565412

電子部品検査におけるHOG特徴量の局在性に着目した次元削減による欠陥識別性能向上に関する提案

Proposal on Improvement of Defect Identification Performance by Dimensional Reduction Focusing on Localization of HOG Feature in Electronic Component Inspection

著者 (5件)： 西村晃紀 (広島工業大学) ,  柳部正樹 (広島工業大学) ,  長谷智紘 (広島工業大学) ,  森山健 (広島工業大学) ,  前田俊二 (広島工業大学)
資料名： 精密工学会誌(Web)  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering (Web))
巻： 85  号： 5  ページ： 469-476(J-STAGE)  発行年： 2019年 
JST資料番号： U0462A  ISSN： 1882-675X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 精密電子部品の製造では,自動検査機によって電子部品に欠陥があるかどうかが判断される。検査の感度を高める要求に沿って,検査機械で判定された欠陥候補には,良品が多く含まれており,それは,良品の過剰検出を引き起こす。本研究では,欠陥候補画像を欠陥画像と非欠陥画像に分類する効果的な方法を開発することを目的とした。本論文では,HOG特徴の局所化に着目した次元削減による欠陥識別性能の改善を評価し,欠陥識別性能を示す結果を報告した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 電子部品 ,  *自動検査システム ,  ヒストグラム ,  特徴抽出 ,  *欠陥 ,  画像 ,  *分類 ,  空間 ,  ベクトル空間 ,  遺伝学実験技術 ,  統計的方法 ,  アルゴリズム ,  局所性
準シソーラス用語： HOG特徴量 ,  *識別性能 ,  多因子次元削減 ,  特徴空間

著者キーワード (10件)： 視覚検査 ,  電子部品 ,  配向勾配のヒストグラム ,  ヒストグラム交差 ,  非負行列因子分解 ,  視覚検査 ,  電子部品 ,  配向勾配のヒストグラム ,  ヒストグラム交差 ,  非負行列因子分解

分類 (2件)： 品質検査  (KB04020L) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

引用文献 (8件)：

• 1) 浦野貴裕, 酒井薫, 前田俊二, 佐藤真一: 対話的教示欠陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術, IEICE, 96-D, 1(2013)221.
• 2) 西村晃紀, 柳部正樹, 橋本将弥, 荒木智行, 長谷智紘, 森山 健, 前田俊二, ヒストグラムベースの局所特徴量を用いた電子部品の外観検査手法の提案, 精密工学会誌, 84, 7(2018)664.
• 3) Richard Szeliski, 訳玉木徹他: コンピュータビジョン-アルゴリズムと応用-, 共立出版, (2013)578.
• 4) M.J.Swain, D.H.Ballard: Color indexing, International Journal of Computer Vision, 7, 1, (1991)11.
• 5) D. D. Lee and H. S. Seung, Learning the parts of objects by non-negative matrix factorization, Nature, 401, 6755(1999)788.

タイトルに関連する用語 (10件)： 電子部品 ,  検査 ,  HOG特徴量 ,  局在性 ,  着目 ,  次元 ,  欠陥 ,  識別 ,  性能向上 ,  提案