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J-GLOBAL ID：201902282718075710   整理番号：19A2873856

高分子におけるElectron活性化エネルギー吸収とインパルス破壊電圧との関係【JST・京大機械翻訳】

Relationship Between Electron Activation Energy Absorption and Impulse Breakdown Voltage in Polymers

著者 (4件)： Jiang Xiongwei (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment and System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Sima Wenxia (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment and System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Sun Potao (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment and System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Peng Qingjun (Electric Power Research Institute of Yunnan Power Grid Corporation, Kunming, China)
資料名： Lecture Notes in Electrical Engineering  (Lecture Notes in Electrical Engineering)
巻： 598  ページ： 1225-1234  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5070A  ISSN： 1876-1100  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： インパルス破壊は,電力機器と電子機器における一般的現象である。インパルス破壊機構を明らかにするために,トラップされた電子に対する活性化エネルギー吸収の新しいモデルを機械的振動理論に基づいて提案し,電気的破壊に及ぼすトラップされた電荷デトラッピング過程の影響を考慮した。モデルでは,周波数依存誘電特性,周波数依存吸収特性およびインパルス電圧の周波数スペクトルを考慮した。その信頼性を検証するために,インパルス電圧下でのポリエチレンテレフタレート膜(PET)の破壊特性を試験した。実験において,破壊電圧に及ぼす異なる波面/尾部時間および振動周波数の影響を得た。提案したモデルに基づく破壊現象の機構解析は実験結果と一致した。提案したモデルは,破壊分散の現象を説明するのに適しており,破壊電圧は波形パラメータにより変化することを示した。本研究は,インパルス絶縁破壊電圧を強化した絶縁材料の最適設計のための参照を提供した。Copyright 2020 Springer Nature Switzerland AG Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電力機器 ,  振動数 ,  波面 ,  機械振動 ,  衝撃電圧 ,  絶縁材料 ,  電子装置 ,  信頼性 ,  周波数依存性 ,  *高分子 ,  誘電性 ,  *活性化エネルギー ,  最適設計
準シソーラス用語： 周波数スペクトル ,  *絶縁破壊電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： インパルス破壊 ,  活性化エネルギー吸収 ,  分散 ,  波形パラメータ

分類 (3件)： 絶縁材料  (NA04030W) ,  開閉装置  (NB09030I) ,  変圧器  (NB08020Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高分子 ,  活性化エネルギー ,  インパルス ,  破壊電圧