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J-GLOBAL ID：201902284419853194   整理番号：19A1413748

全NbN DC-SQUID磁力計の温度依存性能【JST・京大機械翻訳】

Temperature-dependent performance of all-NbN DC-SQUID magnetometers

著者 (6件)： Liu Quansheng (Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, 865 Chang Ning Road, Shanghai 200050, China) ,  Wang Huiwu (Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, 865 Chang Ning Road, Shanghai 200050, China) ,  Zhang Qiyu (Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, 865 Chang Ning Road, Shanghai 200050, China) ,  Wang Hai (Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, 865 Chang Ning Road, Shanghai 200050, China) ,  Peng Wei (Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, 865 Chang Ning Road, Shanghai 200050, China) ,  Wang Zhen (Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, 865 Chang Ning Road, Shanghai 200050, China)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 110  号： 22  ページ： 222604-222604-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高温で動作するSQUID応用のための高品質エピタキシャルNbN/AlN/NbN Josephson接合に基づいて,集積NbN直流超伝導量子干渉素子(DC-SQUID)磁力計を開発した。4.2~9Kの温度範囲でのNbN DC-SQUIDの電流-電圧および電圧-磁束特性と雑音性能を報告した。DC-SQUIDの臨界電流と電圧スイングは,温度が4.2から9Kに上昇すると,それぞれ15%と25%減少した。1kHzでのDC-SQUID磁力計の白色磁束雑音は4.2Kで3.9μφ_0/Hz~1/2から9Kで4.8μφ_0/Hz~1/2に増加し,それぞれ6.6及び8.1fT/Hz~1/2の磁場雑音に対応した。結果は,NbN DC-SQUIDが,SQUID応用における動作温度と温度変動の許容性を改善することを示した。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *温度依存性 ,  接合 ,  磁場 ,  雑音 ,  電圧 ,  *SQUID ,  臨界電流 ,  磁束 ,  直流 ,  高温 ,  電流 ,  温度変動 ,  エピタクシー ,  *磁力計
準シソーラス用語： *NbN , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： Josephson接合・素子  (BM04043E)

タイトルに関連する用語 (4件)： NbN ,  DC ,  SQUID磁力計 ,  温度依存