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J-GLOBAL ID：201902284822516731   整理番号：19A0590606

ダイオードレーザの周波数雑音による物理乱数発生:周波数弁別器の研究

Physical-random number generation via a diode laser’s frequency noise: an investigation into frequency discriminator

著者 (6件)： ARAI Hideaki (Niigata Univ., Niigata, JPN) ,  SATO Takashi (Niigata Univ., JPN) ,  DOI Kohei (Toyama Univ.. JPN) ,  OHDAIRA Yasuo (Niigata Univ., JPN) ,  SAKAMOTO Shuichi (Niigata Univ., JPN) ,  OHKAWA Masashi (Niigata Univ., JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 58  号： 1  ページ： 012009.1-012009.9  発行年： 2019年01月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ダイオードレーザ(DL)は,自然放出におけるゆらぎから生じる高速度周波数雑音の影響を受け,これは高速の物理乱数を生成するときに非常に役立つ現象である。本稿では,周波数雑音源および周波数弁別器としてDL周波数雑音およびルビジウム(Rb)吸収線を用いる物理乱数発生器について述べる。この装置は,実際には毎秒500メガビットの速度で物理乱数を生成するが,DL周波数雑音と周波数弁別器特性の間の関係に依存する。この関係を調べ,物理乱数発生の条件について説明する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 自然放出 ,  ゆらぎ ,  ルビジウム ,  吸収線 ,  乱数発生器 ,  高速度 ,  *半導体レーザ ,  *雑音 ,  *乱数
準シソーラス用語： *ダイオードレーザ ,  *周波数雑音 ,  *物理乱数 ,  *周波数弁別器 ,  雑音源

分類 (2件)： 半導体レーザ  (BD04070L) ,  雑音測定  (ND04030F)

引用文献 (40件)：

• A. Uchida et al., Nat. Photonics. 2, 728 (2008).
• I. Reidler, Y. Aviad, M. Rosenbluh, and I. Kanter, Phys. Rev. Lett. 103, 024102 (2009).
• H. Guo, W. Tang, Y. Liu, and W. Wei, Phys. Rev. E 81, 051137 (2010).
• T. Uehara and T. Sato, Opt. Eng. 48, 044301 (2009).
• S. Maehara, K. Kawakami, H. Arai, K. Nakano, K. Doi, T. Sato, Y. Ohdaira, S. Sakamoto, and M. Ohkawa, Opt. Eng. 52, 014302 (2013).

タイトルに関連する用語 (5件)： ダイオードレーザ ,  周波数雑音 ,  物理乱数 ,  周波数弁別器 ,  研究