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J-GLOBAL ID：201902286189208218   整理番号：19A0690365

CIP法によるTOF過渡電流波形のシミュレーション

Simulation of TOF Transient Currents by the CIP Method

著者 (4件)： 三島吉尊 (北海道科大 大学院工学研究科) ,  増田貴宏 (北海道科大 大学院工学研究科) ,  鈴木和彦 (北海道科大 大学院工学研究科) ,  瀬戸悟 (石川工高専)
資料名： 北海道科学大学研究紀要(Web)  (Bulletin of Hokkaido University of Science (Web))
号： 46  ページ： 19-26 (WEB ONLY)  発行年： 2018年12月26日 
JST資料番号： U0678A  ISSN： 2189-3594  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 負バイアス高抵抗率半導体検出器材料における光生成電荷キャリアの一次元ドリフト拡散方程式を,半ラグランジアン型移流スキームのconstrained profile interpolation(CIP)法により解いた。その解から得た電荷キャリア分布と内部電場の時間発展を用いて,飛行時間(TOF)法で測定した実験的過渡電流波形を再構成する。電子ドリフトに対するいくつかの異なるバイアス電圧と励起強度に対する実験電流波形と理論結果が非常に良く一致することを確認した。さらに,ここでの結果は電荷キャリアドリフトの独立した理論的手法であるモンテカルロシミュレーションと良く一致することも確認した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *数値解法 ,  飛行時間法 ,  *半導体検出器 ,  *半導体材料 ,  拡散方程式 ,  拡散 ,  分布 ,  キャリア密度 ,  電場 ,  時間発展 ,  電流 ,  波形 ,  シミュレーション ,  励起エネルギー ,  モンテカルロ法 ,  輸送現象 ,  *キャリア拡散 ,  光生成 ,  キャリア ,  *γ線検出器
準シソーラス用語： CIP法 ,  移流拡散方程式 ,  ドリフト拡散 ,  キャリア分布 ,  *内部電場 ,  過渡電流 ,  電流波形 ,  励起強度 ,  キャリア輸送 ,  電荷キャリア

分類 (2件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K) ,  放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (4件)： CIP法 ,  TOF ,  電流波形 ,  シミュレーション