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J-GLOBAL ID：201902286858537382   整理番号：19A2023190

キラルメタ表面の円位相二色性の測定【JST・京大機械翻訳】

Measuring circular phase-dichroism of chiral metasurface

著者 (8件)： Zhang Ranran (Optoelectronic Materials and Technologies Engineering Laboratory, Shandong, Physics Department, QingDao University of Science and Technology, QingDao, China) ,  Zhang Ranran (Department of Physics and William Mong Institute of Nano Science and Technology, Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Kowloon, Hong Kong, China) ,  Zhao Qiuling (Optoelectronic Materials and Technologies Engineering Laboratory, Shandong, Physics Department, QingDao University of Science and Technology, QingDao, China) ,  Wang Xia (Optoelectronic Materials and Technologies Engineering Laboratory, Shandong, Physics Department, QingDao University of Science and Technology, QingDao, China) ,  Gao Wensheng (Department of Physics and William Mong Institute of Nano Science and Technology, Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Kowloon, Hong Kong, China) ,  Li Jensen (Department of Physics and William Mong Institute of Nano Science and Technology, Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Kowloon, Hong Kong, China) ,  Tam Wing Yim (Optoelectronic Materials and Technologies Engineering Laboratory, Shandong, Physics Department, QingDao University of Science and Technology, QingDao, China) ,  Tam Wing Yim (Department of Physics and William Mong Institute of Nano Science and Technology, Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Kowloon, Hong Kong, China)
資料名： Nanophotonics (Web)  (Nanophotonics (Web))
巻： 8  号： 5  ページ： 909-920  発行年： 2019年 
JST資料番号： U8087A  ISSN： 2192-8614  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 円偏光を識別するキラル媒質の能力は,異なる偏光に対する入射光の吸収の差に基づく円偏光二色性(CD)により従来特性化されている。したがって,CDはキラル媒体のバルク特性をプローブする。ここでは,表面特性に基づく円偏光二色性と呼ばれる新しいアプローチを導入し,カイラル媒質の特性化における異なる円偏光入射光に対する反射位相の差として定義した。実証として,単純Fabry-Perot干渉法を用いて,可視域における円偏光に対する平面キラル鋸歯メタ表面からの反射位相を測定した。測定した円偏光二色性も透過光の通常のCD測定と全波シミュレーションにより交差した。これらの結果は,センシング及びメタ表面特性化における円偏光二色性の潜在的応用を実証した。Copyright 2019 Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  円偏光二色性 ,  キャラクタリゼーション ,  媒質 ,  *位相 ,  プローブ ,  偏光 ,  表面性状 ,  円偏光 ,  干渉測定
準シソーラス用語： 透過光 ,  入射光 ,  カイラル媒質 ,  *メタ表面 ,  *キラリティ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： カイラル媒質 ,  円偏光二色性 ,  位相測定 ,  円位相二色性

分類 (3件)： 光物性一般  (BM08010A) ,  固体プラズマ  (BM02160W) ,  偏光,複屈折,光学回転  (BD03040X)

タイトルに関連する用語 (5件)： キラル ,  メタ表面 ,  円 ,  位相 ,  二色性