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J-GLOBAL ID：201902290317129340   整理番号：19A1835301

ナノスケール接触帯電におけるElectron移動 光子励起効果【JST・京大機械翻訳】

Electron Transfer in Nanoscale Contact Electrification: Photon Excitation Effect

著者 (11件)： Lin Shiquan (Beijing Institute of Nanoenergy and Nanosystems, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, P. R. China) ,  Lin Shiquan (School of Nanoscience and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China) ,  Xu Liang (Beijing Institute of Nanoenergy and Nanosystems, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, P. R. China) ,  Xu Liang (School of Nanoscience and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China) ,  Zhu Laipan (Beijing Institute of Nanoenergy and Nanosystems, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, P. R. China) ,  Zhu Laipan (School of Nanoscience and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China) ,  Chen Xiangyu (Beijing Institute of Nanoenergy and Nanosystems, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, P. R. China) ,  Chen Xiangyu (School of Nanoscience and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China) ,  Wang Zhong Lin (Beijing Institute of Nanoenergy and Nanosystems, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, P. R. China) ,  Wang Zhong Lin (School of Nanoscience and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China) ,  Wang Zhong Lin (School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, 30332-0245, USA)
資料名： Advanced Materials  (Advanced Materials)
巻： 31  号： 27  ページ： e1901418  発行年： 2019年 
JST資料番号： W0001A  ISSN： 0935-9648  CODEN： ADVMEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 接触帯電(CE)(または摩擦帯電)はよく知られた現象であり,電荷キャリアの同一性とそれらの移動機構は数十年にわたって議論されている。最近,金属とセラミックの間のCEにおける移動電荷の種が電子移動として明らかにされ,その後の放出は熱電子放出過程によって支配される。ここでは,光子励起下の誘電体表面上のCe誘起静電電荷の放出を,光強度と波長を変化させることにより研究したが,温度の有意な上昇はなかった。結果は,表面から摩擦電荷を放出するための閾値光子エネルギーが存在することを示唆した。それは,SiO_2に対して4.1eV(300nmにおいて光波長),PVCに対して3.4eV(光波長360nm)である。これより小さいエネルギーを持つ光子は表面静電電荷を効果的に励起できない。この過程は誘電体材料の表面状態にトラップされた電荷の光電子放出に起因する。さらに,誘電体表面上の光誘起電荷減衰を記述するための光電子放出モデルを提案した。これらの知見は,金属と誘電体との間のCEにおける電子移動過程に関する付加的な強い証拠を提供する。Copyright 2019 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 誘電体 ,  金属 ,  電子移動 ,  *光子 ,  波長 ,  電荷 ,  光電子放出 ,  セラミック ,  *励起
準シソーラス用語： 光誘起 ,  光強度 ,  電荷キャリア ,  *接触帯電 ,  *ナノスケール , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 接触帯電 ,  電子移動 ,  Kelvinプローブ力顕微鏡 ,  光電子放出 ,  UV光

分類 (5件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  固-気界面一般  (CB12041H) ,  固-固界面  (CB12060M) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (4件)： ナノスケール ,  接触帯電 ,  光子 ,  励起