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J-GLOBAL ID：201902290999144249   整理番号：19A1868389

金界面ナフィオン薄膜の界面構造とプロトン輸送特性

著者 (3件)： 遠田葵 (北陸先端科学技術大学院大) ,  小野祐太朗 (北陸先端科学技術大学院大) ,  長尾祐樹 (北陸先端科学技術大学院大)
資料名： 日本化学会春季年会講演予稿集(CD-ROM)
巻： 99th  ページ： ROMBUNNO.2B3-10  発行年： 2019年03月01日 
JST資料番号： S0493B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では金表面に成膜したナフィオン薄膜(数十~数百nm)の界面構造とプロトン輸送特性の評価を行い,非金属基板上や白金表面に成膜したナフィオン薄膜と比較することで,ナフィオン薄膜の界面構造およびプロトン輸送特性の膜厚依存性および基板依存性を調査した。その結果,非金属基板上のナフィオン薄膜と比較して金表面上のナフィオン薄膜は膜厚が低下することで異なる界面構造を示し,膜厚の低下に伴うプロトン伝導性の低下が抑制されることが確認された。(著者抄録)

シソーラス用語： 金 ,  フッ素樹脂 ,  陽イオン交換樹脂 ,  *高分子薄膜 ,  *表面構造 ,  *プロトン移動 ,  依存性 ,  効果 ,  電気伝導率 ,  *界面構造 ,  膜厚依存性 ,  プロトン伝導率 ,  *構造
準シソーラス用語： Nafion ,  プロトン伝導性 ,  *プロトン輸送 ,  基板効果

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  高分子固体の物理的性質  (CG02024U)

タイトルに関連する用語 (7件)： 金 ,  界面 ,  ナフィオン ,  薄膜 ,  界面構造 ,  プロトン ,  輸送特性