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J-GLOBAL ID:201902292170419732   整理番号:19A0887259

マイクロ波原子間力顕微鏡の非接触力曲線に基づく誘電材料の局所誘電率測定【JST・京大機械翻訳】

Local permittivity measurement of dielectric materials based on the non-contact force curve of microwave atomic force microscopy
著者 (5件):
資料名:
巻: 90  号:ページ: 033706-033706-5  発行年: 2019年 
JST資料番号: D0517A  ISSN: 0034-6748  CODEN: RSINAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ナノメートルスケールの空間分解能をもつ誘電材料の局所誘電率を測定する非接触で定量的な方法を報告した。プローブと試料間の相互作用に及ぼすマイクロ波の効果を記述するために,近接場近似に基づく理論モデルを開発した。非接触モードの下で,著者らはマイクロ波原子間力顕微鏡を用いてSi,Al_2O_3,Ge,およびZrO_2の力曲線を首尾よく測定し,マイクロ波によって引き起こされた力の変化を観察した。確立した理論モデルに従って,誘電材料の局所誘電率の定量的非接触評価を行った。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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顕微鏡法 

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