Qin Fei について
中国科学院電子学研究所微波成像技術重点実験室,北京100190;中国科学院大学,北京100049 について
Liang Xingdong について
中国科学院電子学研究所微波成像技術重点実験室,北京,100190 について
Zhang Fubo について
中国科学院電子学研究所微波成像技術重点実験室,北京,100190 について
Chen Longyong について
中国科学院電子学研究所微波成像技術重点実験室,北京,100190 について
Qiao Ming について
中国科学院電子学研究所微波成像技術重点実験室,北京,100190 について
Li Yanlei について
中国科学院電子学研究所微波成像技術重点実験室,北京,100190 について
Wan Yangliang について
中国科学院電子学研究所微波成像技術重点実験室,北京100190;中国科学院大学,北京100049 について
Xinhao Chuli について
再構成 について
機械学習 について
エッジ検出 について
クラスタ分析 について
特徴抽出 について
アルゴリズム について
基準線 について
物体認識 について
三次元 について
有効性 について
アンテナ について
方位角 について
画像処理 について
開口 について
航空機搭載 について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について
機械学習 について
アレイ について
トモグラフィー について
SAR について
建築物 について
目標 について