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J-GLOBAL ID：201902296709988826   整理番号：19A2852208

熱電結晶学(2)

著者 (1件)： 宮崎讓 (東北大)
資料名： 日本熱電学会誌  (Journal of the Thermoelectrics Society of Japan)
巻： 14  号： 1  ページ： 32-36  発行年： 2017年08月28日 
JST資料番号： F2331A  ISSN： 1349-4279  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・多結晶X線回折パターンを用いて構造パラメータの精密化を行うRietveld解析の実例を中心に解説。
・XRD測定における観測強度プロファイルを表現する重要パラメータのプロファイル関数としての擬Voigt関数と構造因子を解説。
・結晶構造解析として理論強度と観測強度の残差二乗和を最小とするパラメータを精密化するRietveld解析とその初期値にも使用されるLe Bail解析を解説。
・CrSi₂の熱電特性改善のためCrをNbで部分置換した(Cr_1-xNb_x)Si₂の格子定数に及ぼすxの影響のRietveld解析例を紹介。

シソーラス用語： *X線回折 ,  *Rietveld法 ,  Voigt関数 ,  構造因子 ,  *結晶構造解析 ,  最小二乗法 ,  クロム化合物 ,  ニオブ化合物 ,  格子定数 ,  熱電材料 ,  ケイ化物 ,  ドーピング ,  効果 ,  ケイ化クロム ,  ドーピング効果

分類 (1件)： 結晶学一般  (BK05010Z)

引用文献 (12件)：

• 中井泉,泉富士夫 編:粉末X線解析の実際(第2版),朝倉書店,(2009).
• Thompson P., Cox D. E. and Hastings J. B.: J. Appl. Crystallogr, 20, 85 (1987).
• Izumi F. and Momma K.: Solid State Phenom., 130, 15 (2007).
• Petricek V., Dusek M. and Palatinus L.: Z. Kristallogr. 229, 345 (2014).
• Le Bail A., Duroy H. and Fourquet J. L.: Mater. Res. Bull., 23, 447 (1988).

タイトルに関連する用語 (1件)： 結晶学