特許

J-GLOBAL ID：201903000060926843

撮像装置及びモニタリング装置

発明者： 小倉 洋平 ,  城 堅誠
出願人/特許権者： ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
代理人 (4件)： 亀谷 美明 ,  金本 哲男 ,  萩原 康司 ,  松本 一騎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-135381
公開番号（公開出願番号）：特開2019-015706
出願日： 2017年07月11日
公開日（公表日）： 2019年01月31日
要約：

【課題】1台の測距カメラで直接的に測定することが難しい対象物の領域に対して正確に距離及び形状を測定することが可能な、撮像装置及びモニタリング装置を提供する。【解決手段】対象物に対して光を照射して、前記対象物によって反射された前記光を検知するセンサ部と、前記センサ部のセンシングデータに基づいて、前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、前記対象物を挟んで、前記センサ部の反対側に位置する鏡面反射体と、前記センサ部から前記対象物に向かう第1の経路をたどった前記光と、前記センサ部から前記鏡面反射体で反射して前記対象物に向かう第2の経路をたどった前記光との干渉に起因する、算出された前記距離に含まれる誤差を補正する補正部と、を備える、撮像装置を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

対象物に対して光を照射して、前記対象物によって反射された前記光を検知するセンサ部と、 前記センサ部のセンシングデータに基づいて、前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、 前記対象物を挟んで、前記センサ部の反対側に位置する鏡面反射体と、 前記センサ部から前記対象物に向かう第1の経路をたどった前記光と、前記センサ部から前記鏡面反射体で反射して前記対象物に向かう第2の経路をたどった前記光との干渉に起因する、算出された前記距離に含まれる誤差を補正する補正部と、 を備える、 撮像装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G01B 11/00 ,  G01S 17/89 ,  G01C 3/06

FI (7件)：

G01B11/24 K ,  G01B11/25 H ,  G01B11/00 H ,  G01S17/89 ,  G01C3/06 120Q ,  G01C3/06 140 ,  G01C3/06 110A

Fターム (53件)：

2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB28 ,  2F065CC16 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF07 ,  2F065FF12 ,  2F065FF13 ,  2F065GG06 ,  2F065HH03 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F112AD01 ,  2F112BA03 ,  2F112CA04 ,  2F112CA12 ,  2F112DA04 ,  2F112DA09 ,  2F112DA25 ,  2F112DA28 ,  2F112EA03 ,  2F112EA05 ,  2F112FA35 ,  2F112GA01 ,  5J084AA04 ,  5J084AA05 ,  5J084AB07 ,  5J084AC07 ,  5J084AD01 ,  5J084AD02 ,  5J084AD05 ,  5J084AD07 ,  5J084BA04 ,  5J084BA20 ,  5J084BA34 ,  5J084BA40 ,  5J084BB02 ,  5J084BB27 ,  5J084CA04 ,  5J084CA07 ,  5J084CA65 ,  5J084CA67