特許

J-GLOBAL ID：201903000471579982

レンズ特性測定装置及びレンズ特性測定装置の作動方法

発明者： 雜賀 誠
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-135146
公開番号（公開出願番号）：特開2019-060851
出願日： 2018年07月18日
公開日（公表日）： 2019年04月18日
要約：

【課題】撮影画像の中心部及び周辺部での測定感度の低下防止と、大型化防止とを実現可能なレンズ特性測定装置、及びレンズ特性測定装置の作動方法を提供する。【解決手段】被検レンズの表面を線状光束で走査する走査光学系と、被検レンズに対して走査光学系とは反対側に設けられており、2次元配列された複数のピンホールを有するハルトマンプレートであって、且つ走査光学系による走査により被検レンズを透過してピンホールに照射された線状光束を透過するハルトマンプレートと、ハルトマンプレートを透過した線状光束が投影されるスクリーンと、スクリーンに対してハルトマンプレートとは反対側に設けられ、走査光学系により線状光束の走査が実行されている間、スクリーンの撮影を行う撮影光学系と、を備える。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

被検レンズの表面を線状光束で走査する走査光学系と、 前記被検レンズに対して前記走査光学系とは反対側に設けられており、2次元配列された複数のピンホールを有するハルトマンプレートであって、且つ前記走査光学系による走査により前記被検レンズを透過して前記ピンホールに照射された前記線状光束を透過するハルトマンプレートと、 前記ハルトマンプレートを透過した前記線状光束が投影されるスクリーンと、 前記スクリーンに対して前記ハルトマンプレートとは反対側に設けられ、前記走査光学系により前記線状光束の走査が実行されている間、前記スクリーンの撮影を行う撮影光学系と、 を備えるレンズ特性測定装置。

IPC (1件)：

G01M 11/02

FI (1件)：

G01M11/02 B

Fターム (1件)：

2G086HH02

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭53-122445
  
• レンズ評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-259189   出願人：オリンパス株式会社
• レンズメータ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-295064   出願人：株式会社トプコン