特許
J-GLOBAL ID：201903001066011002
地下坑井におけるダウンホール特性の測定値を得るための方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
渡邉 一平
, 小池 成
, 永岡 儀雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-556568
特許番号：特許第6518342号
出願日： 2016年04月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 地下坑井に沿った特性を測定するための非繋留型機器であって、
互いに取り外し可能に固定された2つの半球によって特徴づけられるハウジングと、
前記地下坑井に沿ったデータを測定するように構成された1つ以上のセンサであって、前記データが前記地下坑井に沿った1つ以上の物理的、化学的、地質的もしくは構造的特性または前記機器の力学を備える、1つ以上のセンサと、
前記データを測定する前記1つ以上のセンサを読み取って、測定データを記憶するように構成された1つ以上のプロセッサと、
前記地下坑井の外部に配置された受信機に前記測定データを送信するように構成された送信機と、
前記非繋留型機器の浮力および前記非繋留型機器の抗力のうちの少なくとも一方を制御して、前記地下坑井に沿った前記非繋留型機器の位置を制御するように構成されたコントローラと
を特徴とし、
前記1つ以上のセンサは、前記非繋留型機器に作用する圧力を測定して、前記非繋留型機器が前記地下坑井に沿って配置される位置を決定するように構成された、位置センサを備え、
前記1つ以上のプロセッサは、前記地下坑井内の非繋留型機器の前記1つ以上のセンサのための測定パラメータを定義する命令を備える、地下坑井に沿った特性を測定するための非繋留型機器。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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