特許
J-GLOBAL ID：201903002252856035
クロマトグラフ質量分析システム及び測定条件表示方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-106634
公開番号（公開出願番号）：特開2019-211301
出願日： 2018年06月04日
公開日（公表日）： 2019年12月12日
要約：
【課題】クロマトグラムとの関係で測定区間ごとの測定条件の適否を判断できるようにする。【解決手段】分析対象試料の測定に先立って、レビュー画像66が表示される。レビュー画像66は、注目測定区間について定められた測定条件を表す波形画像68及び数値画像70からなる。波形画像68は、クロマトグラムの一部としての波形部分84と、循環的なイオン測定の周期を示すマーカー列86と、を含む。マーカー列86は、波形部分84上に重畳表示された複数のマーカー88により構成される。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
保持時間軸上に設定される複数の測定区間と測定区間ごとに実行される循環的なイオン測定とを管理するための測定条件テーブルを記憶した記憶部と、
前記測定条件テーブルに基づいて、前記複数の測定区間の中から選択された注目測定区間に対して定められたイオン測定条件を表すレビュー画像を生成するレビュー画像生成部と、
前記レビュー画像を表示する表示部と、
を含み、
前記レビュー画像には波形画像が含まれ、
前記波形画像には、クロマトグラムにおける少なくとも前記注目測定区間内の波形部分と、当該波形部分と一緒に表示される複数の表示要素であって前記注目測定区間内で実行される循環的なイオン測定を示す複数の表示要素と、が含まれる、
ことを特徴とするクロマトグラフ質量分析システム。
IPC (3件)：
G01N 27/62
, G01N 30/72
, G01N 30/86
G01N27/62 Y
, G01N27/62 X
, G01N27/62 C
, G01N27/62 V
, G01N30/72 A
, G01N30/72 C
, G01N30/86 D
, G01N30/86 B
2G041CA01
, 2G041EA12
, 2G041GA03
, 2G041GA09
, 2G041HA01
, 2G041LA07
, 2G041LA08
, 2G041MA01
, 2G041MA03
, 2G041MA04
