特許
J-GLOBAL ID：201903002534491455
非接触形状・誘電率測定装置、非接触形状・誘電率測定方法及びプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人信友国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-033708
公開番号（公開出願番号）：特開2019-148510
出願日： 2018年02月27日
公開日（公表日）： 2019年09月05日
要約：
【課題】非接触で、目標の形状と、その目標の物質とが同時に取得できるようにする。【解決手段】受信処理部12が、送信素子で電磁波が出力されてから受信素子で反射波を受信するまでの伝送経路が異なる複数の系の受信出力を得る。受信処理部12で得た各受信出力から、距離点取得部16が目標の距離点の情報を取得する。そして、距離点取得部16で得られた複数の距離点の集積度を評価して、目標の形状を得る距離点マイグレーション(RPM)処理を行う。さらに、距離点取得部16が取得した距離点の誘電率を、受信素子が受信した際の2つの偏波の反射係数比から得、誘電率から目標となるものを推定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
送信素子から出力された電磁波の反射波を受信する受信素子の受信出力として、送信素子で電磁波が出力されてから受信素子で反射波を受信するまでの伝送経路が異なる複数の系の受信出力を得る受信処理部と、
前記受信処理部で得た各受信出力に含まれる閾値を越える極大値を、複数の距離点の情報として抽出する距離点取得部と、
前記距離点取得部が取得した各距離点を評価して、目標の形状を得る距離点マイグレーション処理部と、
前記受信素子が受信した際の2つの偏波の反射係数比から、前記距離点取得部が抽出した各距離点についての誘電率を得る誘電率取得部とを備える
非接触形状・誘電率測定装置。
IPC (4件)：
G01B 15/04
, G01S 13/89
, G01S 7/41
, G01N 22/00
G01B15/04 C
, G01S13/89
, G01S7/41
, G01N22/00 Y
, G01N22/00 S
2F067AA06
, 2F067AA53
, 2F067BB25
, 2F067CC04
, 2F067CC19
, 2F067EE04
, 2F067EE10
, 2F067HH01
, 2F067HH02
, 2F067LL02
, 2F067RR07
, 2F067RR14
, 2F067RR31
, 2F067SS13
, 5J070AC20
, 5J070AD05
, 5J070AD15
, 5J070AH39
, 5J070AK22
, 5J070AK40
