表面線量率の測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小池文雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-157196
特許番号：特許第6512649号
出願日： 2018年08月24日
要約：

【課題】バックグランド線量率が比較的高い環境下での放射性物質汚染廃棄物が収納された容器の表面線量率について、機動性に富み、測定作業者への負担が少なく、精度の高い測定方法を提供する。【解決手段】本発明の表面線量率の測定方法は、(a)放射性物質汚染廃棄物が収納された容器の表面にハンディタイプの放射線検出器を当接して第1線量率D1を測定する工程と、(b)容器の表面と放射線検出器との間にハンディタイプの放射線遮蔽体を入れた状態で第2線量率D2を測定する工程と、(c)換算係数Rを含む式、Dn=(D1-D2)×R、から容器の表面線量率Dnを求める工程を含む。換算係数Rは、放射線遮蔽体の厚さと放射線検出器が検出する放射線の低減率との関係を基に選択した所定の定数からなる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

【請求項1】表面線量率の測定方法であって、放射性物質汚染廃棄物が収納された容器の鉛直方向の側面にハンディタイプの放射線検出器を当接して第1線量率D1を測定する工程と、前記容器の前記側面と前記放射線検出器との間にハンディタイプの放射線遮蔽体を入れた状態で第2線量率D2を測定する工程と、換算係数Rを含む下記の式(1)から前記容器の表面線量率Dnを求める工程と、を含み、 Dn=(D1-D2)×R (1) 前記換算係数Rは、前記放射線遮蔽体の厚さと前記放射線検出器が検出する放射線の低減率との関係を基に選択した所定の定数からなり、前記2つの測定工程は、測定環境下でのバックグラウンド放射線を遮蔽することなく行われる、測定方法。

IPC (5件)：

G01T 1/167 ( 200 6.01) , G01T 1/20 ( 200 6.01) , G21F 1/08 ( 200 6.01) , G21F 9/00 ( 200 6.01) , G21F 9/36 ( 200 6.01)

FI (6件)：

G01T 1/167 H , G01T 1/20 H , G01T 1/20 B , G21F 1/08 , G21F 9/00 Z , G21F 9/36 F

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平3-033677
特開昭63-285485
放射線量率データ評価装置、放射線量率データ評価方法および放射線量率データ評価プログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2016-131410 出願人：清水建設株式会社

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