特許

J-GLOBAL ID：201903003220543716

電子写真感光体の検査装置、検査方法および製造方法

発明者： 上野 高典 ,  大山 一成 ,  大脇 弘憲 ,  阿部 幸裕 ,  大平 純 ,  小島 康夫
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-060943
公開番号（公開出願番号）：特開2019-174579
出願日： 2018年03月27日
公開日（公表日）： 2019年10月10日
要約：

【課題】 検査の精度および安定性を向上させた電子写真感光体の検査装置を提供する。【解決手段】 電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段、および、帯電した電子写真感光体の表面電位を測定する表面電位測定手段を有する電子写真感光体の検査装置において、前記電子写真感光体と前記帯電装置の間の酸素濃度を10%以下に調整する機構を有することを特徴とする電子写真感光体の検査装置である。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段、および、帯電した電子写真感光体の表面電位を測定する表面電位測定手段を有する電子写真感光体の検査装置において、 前記電子写真感光体と前記帯電装置の間の酸素濃度を10%以下に調整する機構を有することを特徴とする電子写真感光体の検査装置。

IPC (5件)：

G03G 21/00 ,  G03G 5/00 ,  G03G 5/08 ,  G03G 15/00 ,  G03G 15/02

FI (7件)：

G03G21/00 ,  G03G5/00 101 ,  G03G5/08 360 ,  G03G15/00 651 ,  G03G21/00 540 ,  G03G15/02 103 ,  G03G15/00 550

Fターム (25件)：

2H035CA07 ,  2H035CB02 ,  2H068EA41 ,  2H134QA02 ,  2H171FA06 ,  2H171FA07 ,  2H171GA21 ,  2H171NA04 ,  2H171PA05 ,  2H171PA08 ,  2H171PA09 ,  2H171PA13 ,  2H200FA07 ,  2H200GA18 ,  2H200GB50 ,  2H200HA12 ,  2H200HB03 ,  2H200HB26 ,  2H200LB21 ,  2H270SA02 ,  2H270SA20 ,  2H270SB30 ,  2H270SC01 ,  2H270SC02 ,  2H270SC21