特許

J-GLOBAL ID：201903005486951618

測距装置

発明者： 奥山 健久 ,  柳澤 琢麿 ,  佐藤 充
出願人/特許権者： パイオニア株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人レクスト国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-226259
公開番号（公開出願番号）：特開2019-095354
出願日： 2017年11月24日
公開日（公表日）： 2019年06月20日
要約：

【課題】方向によって測距が必要とされる距離範囲が異なる場合でも、空間解像度の不均一性が大きくなく、良好な測距を行うことが可能な測距装置を提供する。【解決手段】反射面を有する反射部材を揺動させることにより走査を行う光走査部20を有する測距装置100である。光走査部20は仮想の走査面を走査する。この仮想の走査面は、方向によって測距が必要とされる距離範囲が異なる。測距装置100は、この仮想の走査面において空間解像度の不均一性が大きくなく、良好な測距を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

複数のパルス光を同時に出射可能な光源部と、 前記パルス光の照射方向を連続的に変化させることで、所定の領域を走査する光走査部と、 所定の測距可能範囲を有し、対象物で反射した前記パルス光によって、前記測距可能範囲内に存在する前記対象物までの距離を測定する測距部と、 前記光走査部が前記パルス光を照射する方向における前記測距可能範囲の距離の大きさに応じて、前記光源部が同時に出射するパルス光の数を制御する制御手段と、を有することを特徴とする測距装置。

IPC (1件)：

G01S 7/484

FI (1件)：

G01S7/484

Fターム (13件)：

5J084AA05 ,  5J084AA10 ,  5J084AC02 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA07 ,  5J084BA14 ,  5J084BA23 ,  5J084BA36 ,  5J084BA48 ,  5J084BB28 ,  5J084CA03 ,  5J084EA04