特許
J-GLOBAL ID：201903007352665883
医用デバイスの適応セルフテスト及びストレス解析
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人M&Sパートナーズ
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-073771
公開番号（公開出願番号）：特開2018-134447
特許番号：特許第6517396号
出願日： 2018年04月06日
公開日（公表日）： 2018年08月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 除細動器をセルフテストする方法であって、
第1の頻度で、セルフテストプロトコルを定期的に行うステップと、
他の除細動器の故障又は欠陥に関する情報を、前記除細動器において受信するステップと、
前記受信するステップにおいて受信した前記情報に反応して、前記セルフテストプロトコルを、第2の頻度に自動的に切り替えるステップと、
前記第2の頻度で、前記セルフテストプロトコルを定期的に行うステップと、
を含む、方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
前のページに戻る
