特許
J-GLOBAL ID:201903010400035448

ゲートピン検査装置および検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人アイミー国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-248123
公開番号(公開出願番号):特開2019-113453
出願日: 2017年12月25日
公開日(公表日): 2019年07月11日
要約:
【課題】安価で容易にゲートピンの摩擦力を評価する検査装置を提供する。【解決手段】ゲートピンを検査するゲートピン検査装置10は、ゲートピンに取り付けられたAEセンサ11と、AEセンサ11からAE波形を取得する波形取得部12と、波形取得部12が取得した波形に基づいて得られた所定のDA値を用いてゲートピンの摩擦力を評価する評価部13と、評価部13の評価結果を出力する出力部14とを含む。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ゲートピンに取り付けられたAEセンサと、前記AEセンサからAE波形を取得する波形取得部と、前記波形取得部が取得した波形に基づいて得られた所定のDA値を用いてゲートピンの摩擦力を評価する評価部と、前記評価部の評価結果を出力する出力部とを含む、ゲートピン検査装置。
IPC (1件):
G01M 99/00
FI (1件):
G01M99/00 Z
Fターム (4件):
2G024AD34 ,  2G024BA21 ,  2G024CA13 ,  2G024FA01
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 特開平3-245054
  • 金型装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2015-210062   出願人:株式会社小糸製作所
  • 摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2013-154851   出願人:株式会社アドヴィックス
審査官引用 (3件)
  • 特開平3-245054
  • 金型装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2015-210062   出願人:株式会社小糸製作所
  • 摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2013-154851   出願人:株式会社アドヴィックス
引用文献:
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