特許
J-GLOBAL ID：201903010444012097

検査システム、検査方法およびプログラム

発明者：
小田 賢治

小田 賢治 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (2件)： 机 昌彦 ,  下坂 直樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-020712
公開番号（公開出願番号）：特開2019-139412
出願日： 2018年02月08日
公開日（公表日）： 2019年08月22日
要約：
【課題】コネクタの嵌合状態を誤判定せずに効率的に検出できる検査装置を提供する。【解決手段】半嵌合状態で嵌合した登録対象コネクタの嵌合位置を含む範囲を撮像し、撮像された画像から特徴パターンを抽出し、抽出した特徴パターンをテンプレートとして登録するテンプレート作成手段と、検査対象コネクタの嵌合位置を含む範囲を撮像して走査対象画像を生成し、テンプレートの走査範囲を走査対象画像に設定する画像入力手段と、テンプレート作成手段に登録されたテンプレートを用いて、画像入力手段によって生成された走査対象画像の走査範囲で画像照合を実行して相関値を算出し、算出した相関値の最大値を記録する画像照合手段と、画像照合手段に記録された相関値の最大値に基づいて検査対象コネクタの嵌合状態を判定する判定手段とを備える検査システムとする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
半嵌合状態で嵌合した登録対象コネクタの嵌合位置を含む範囲を撮像し、撮像された画像から特徴パターンを抽出し、抽出した前記特徴パターンをテンプレートとして登録するテンプレート作成手段と、 検査対象コネクタの前記嵌合位置を含む範囲を撮像して走査対象画像を生成し、前記テンプレートの走査範囲を前記走査対象画像に設定する画像入力手段と、 前記テンプレート作成手段に登録された前記テンプレートを用いて、前記画像入力手段によって生成された前記走査対象画像の前記走査範囲で画像照合を実行して相関値を算出し、算出した前記相関値の最大値を記録する画像照合手段と、 前記画像照合手段に記録された前記相関値の最大値に基づいて前記検査対象コネクタの嵌合状態を判定する判定手段とを備える検査システム。
IPC (4件)：
G06T 7/00 ,  H01R 43/26 ,  H01R 43/00 ,  G01B 11/14
FI (4件)：
G06T7/00 610C ,  H01R43/26 ,  H01R43/00 Z ,  G01B11/14 H
Fターム (24件)：
2F065AA22 ,  2F065CC25 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR07 ,  2F065TT03 ,  5E051GB10 ,  5E063KA01 ,  5E063XA09 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096DA02 ,  5L096FA34 ,  5L096FA69 ,  5L096HA09 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09
引用特許：
出願人引用 (5件)
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引用文献：
出願人引用 (1件)

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