特許

J-GLOBAL ID：201903010688026502

集光光学ユニット及びそれを用いたレーザ発振器、レーザ加工装置、レーザ発振器の異常診断方法

発明者： 加藤 直也 ,  山下 隆之 ,  堂本 真也
出願人/特許権者： パナソニックIPマネジメント株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人前田特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-092901
公開番号（公開出願番号）：特開2019-201031
出願日： 2018年05月14日
公開日（公表日）： 2019年11月21日
要約：

【課題】レーザ発振器内部の異常の有無を簡便に判定する。【解決手段】集光光学ユニット140は、レーザ光LBを集光する集光レンズ142を筐体141内に有し、集光レンズ142で集光されたレーザ光LBを石英ブロック144を介して伝送ファイバ200に入射させる。筐体141における集光レンズ142と石英ブロック144との間に、伝送ファイバ200及び/または石英ブロック144からの反射光を受光するフォトダイオード147と、集光レンズ142からの散乱光を受光するフォトダイオード148とが所定の間隔をあけて配設されている。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

レーザ光源から出射されたレーザ光を集光する集光レンズを筐体内に有し、前記集光レンズで集光された前記レーザ光をレーザ光出射部を介して伝送ファイバに入射させる集光光学ユニットであって、 前記筐体における前記集光レンズと前記レーザ光出射部との間に、前記伝送ファイバ及び/または前記レーザ光出射部からの反射光を受光する第1受光部と、前記集光レンズからの散乱光を受光する第2受光部とが所定の間隔をあけて配設されていることを特徴とする集光光学ユニット。

IPC (4件)：

H01S 3/00 ,  B23K 26/064 ,  B23K 26/00 ,  G01M 11/00

FI (5件)：

H01S3/00 G ,  B23K26/064 K ,  B23K26/00 Q ,  H01S3/00 B ,  G01M11/00 T

Fターム (14件)：

2G086EE03 ,  4E168CA01 ,  4E168DA13 ,  4E168DA26 ,  4E168EA08 ,  4E168EA17 ,  4E168EA19 ,  4E168KA15 ,  5F172DD06 ,  5F172NN05 ,  5F172NP08 ,  5F172NP16 ,  5F172NP18 ,  5F172ZZ01

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光ファイバ破断検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-197899   出願人：石川島播磨重工業株式会社
• 内視鏡装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2011-004409   出願人：富士フイルム株式会社
• 光モジュール
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-300410   出願人：古河電気工業株式会社