特許
J-GLOBAL ID:201903010839895273
画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
上田 邦生
, 柳 順一郎
, 小栗 眞由美
, 竹内 邦彦
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2016068686
公開番号(公開出願番号):WO2017-221376
出願日: 2016年06月23日
公開日(公表日): 2017年12月28日
要約:
少ない計算量で精度よく欠陥画素を検出することを目的として、本発明に係る画像処理装置(1)は、取得された画像の注目画素と周辺画素とを含むブロック内の各画素の画素値に対して、順序統計フィルタ処理を施すフィルタ処理部(2)と、フィルタ処理部(2)により順序統計フィルタ処理が施される前後の注目画素の画素値の差分値を算出する差分値算出部(3)と、フィルタ処理部(2)により順序統計フィルタ処理が施された周辺画素の画素値の統計的バラツキを算出するバラツキ算出部(4)と、差分値算出部(3)により算出された差分値をバラツキ算出部(4)により算出された統計的バラツキにより除算して得られた値が所定の閾値以上である場合に、注目画素を欠陥画素であると判定する判定部(5)とを備える。
請求項(抜粋):
取得された画像の注目画素と周辺画素とを含むブロック内の各画素の画素値に対して、順序統計フィルタ処理を施すフィルタ処理部と、
該フィルタ処理部により順序統計フィルタ処理が施される前後の前記注目画素の前記画素値の差分値を算出する差分値算出部と、
前記フィルタ処理部により順序統計フィルタ処理が施された前記周辺画素の前記画素値の統計的バラツキを算出するバラツキ算出部と、
前記差分値算出部により算出された差分値を前記バラツキ算出部により算出された統計的バラツキにより除算して得られた値が所定の閾値以上である場合に、前記注目画素を欠陥画素であると判定する判定部とを備える画像処理装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (5件):
5C024CX22
, 5C024CX23
, 5C024HX04
, 5C024HX29
, 5C024HX30
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