特許
J-GLOBAL ID：201903010874935784
自動量子ビット校正
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
村山 靖彦
, 実広 信哉
, 阿部 達彦
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-564274
公開番号（公開出願番号）：特表2019-521433
出願日： 2016年12月19日
公開日（公表日）： 2019年07月25日
要約：
自動量子ビット校正のための方法および装置に関する。一態様では、方法は、複数の量子ビットパラメータ、および複数の量子ビットパラメータの1つまたは複数の他の量子ビットパラメータへの依存関係を記述するデータを取得することと、量子ビットパラメータを識別することと、識別した量子ビットパラメータおよび1つまたは複数の依存性量子ビットパラメータを含む量子ビットパラメータの組を選択することと、量子ビットパラメータの組の中のパラメータについて、パラメータに校正試験を実施すること、および校正試験が不合格のときにパラメータに第1の校正実験または診断校正アルゴリズムを実施することを含む依存関係を記述するデータに従うシーケンスで、量子ビットパラメータの組の中の1つまたは複数のパラメータを処理することとを含む。
請求項（抜粋）：
複数の量子ビットパラメータと、前記複数の量子ビットパラメータの1つまたは複数の他の量子ビットパラメータへの依存関係を記述するデータとを取得するステップと、
量子ビットパラメータを識別するステップと、
前記識別した量子ビットパラメータおよび1つまたは複数の依存性量子ビットパラメータを含む量子ビットパラメータの組を選択するステップと、
依存関係を記述する前記データに従うシーケンスで、量子ビットパラメータの前記組の中の1つまたは複数のパラメータを処理するステップであって、量子ビットパラメータの前記組の中のパラメータについて、
前記パラメータに校正試験を実施するステップ、および
前記校正試験が不合格のときに前記パラメータに第1の校正実験または診断校正アルゴリズムを実施するステップ
を含む、ステップと
を含む、方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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