特許
J-GLOBAL ID:201903011382757534

逐次制御プログラム、逐次制御方法および逐次制御装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-093374
公開番号(公開出願番号):特開2019-198251
出願日: 2018年05月14日
公開日(公表日): 2019年11月21日
要約:
【課題】製造工程の予測精度を向上させることを課題とする。【解決手段】逐次制御装置は、微生物の発酵に関連した工程を含む複数段階の工程における複数の観測値を取得する。逐次制御装置は、複数段階の工程に対応した微生物の発酵に関する非線形の数理モデルについて、数理モデルに含まれる複数のパラメータに含まれる、非観測なデータに関連する複数の特定パラメータについての確率分布を設定する。逐次制御装置は、複数の観測値、および、確率分布に基づき、数理モデルの次の観測時刻における観測予測値を生成する。逐次制御装置は、観測予測値の分布および次の観測時刻における観測値を用いて、複数のパラメータを更新する。逐次制御装置は、複数のパラメータが更新された数理モデルを用いて生成された、複数の特定パラメータのそれぞれの誤差が低減されるように、数理モデルを制御する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
コンピュータに、 微生物の発酵に関連した工程を含む複数段階の工程における複数の観測値を取得し、 前記複数段階の工程に対応した前記微生物の発酵に関する非線形の数理モデルについて、前記数理モデルに含まれる複数のパラメータに含まれる、非観測なデータに関連する複数の特定パラメータについての確率分布を設定し、 前記複数の観測値、および、前記確率分布に基づき、前記数理モデルの次の観測時刻における観測予測値を生成し、 前記観測予測値の分布および前記次の観測時刻における観測値を用いて、前記複数のパラメータを更新し、 前記複数のパラメータが更新された前記数理モデルを用いて生成された、前記複数の特定パラメータのそれぞれの誤差が低減されるように、前記数理モデルを制御する 処理を実行させる逐次制御プログラム。
IPC (2件):
C12G 3/02 ,  C12M 1/00
FI (2件):
C12G3/02 119J ,  C12M1/00 C
Fターム (6件):
4B029AA02 ,  4B029BB01 ,  4B029CC01 ,  4B029DF10 ,  4B029DG10 ,  4B115CN63
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特許第6278899号

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