特許
J-GLOBAL ID：201903011971579530
質量分析装置及び質量分析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人信友国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-009039
公開番号（公開出願番号）：特開2017-129459
特許番号：特許第6533749号
出願日： 2016年01月20日
公開日（公表日）： 2017年07月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 所定の強度レベルの分析試料と、前記分析試料の強度レベルよりも低い強度レベルでスペクトル位置が既知の標準試料とが供給されるイオン源と、
前記イオン源で発生したイオンを飛行させて質量分離する質量分離部と、
前記質量分離部で質量分離されたイオンを検出するイオン検出器と、
前記イオン検出器で得られた検出信号を、前記分析試料の強度レベルに対応したレベルで第1のデジタルデータに変換すると共に、前記標準試料の強度レベルに対応したレベルで第2のデジタルデータに変換するデジタイザと、
前記デジタイザで変換された前記第2のデジタルデータからスペクトル位置が既知の標準試料のスペクトルを抽出する標準試料スペクトル抽出部と、
前記標準試料スペクトル抽出部で得た標準試料のスペクトルに基づいて、前記第1のデジタルデータを校正する校正部と、
前記校正部で校正されたデータから前記分析試料のスペクトルを取得する分析試料スペクトル取得部とを備えた
質量分析装置。
IPC (2件)：
G01N 27/62 ( 200 6.01)
, H01J 49/40 ( 200 6.01)
G01N 27/62 D
, H01J 49/40
