特許

J-GLOBAL ID：201903012334855415

X線検出器、X線CT装置、X線検出方法、及びX線検出プログラム

発明者： 昆野 康隆
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人 山王坂特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-037237
公開番号（公開出願番号）：特開2017-153547
特許番号：特許第6619258号
出願日： 2016年02月29日
公開日（公表日）： 2017年09月07日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 X線を検出する検出素子を二次元配列した検出素子群を複数有し、該検出素子群を1画素に対応させて複数配列した検出部と、 前記検出素子の出力信号の加算率を決定する加算率決定部と、 前記検出素子群に属する前記検出素子の出力信号を前記加算率に応じて加算することにより投影像の画素毎の信号値を算出する加算部と、 前記画素と当該画素に対応する検出素子群に属する前記検出素子との位置関係を示す画素位置情報と、前記検出素子群に含まれる欠陥素子の位置を示す欠陥素子位置情報とを記憶した位置情報記憶部と、を備え、 前記加算率決定部が、前記画素位置情報及び前記欠陥素子位置情報に基づいて、信号値を算出する画素に含まれる前記欠陥素子の出力信号の加算率と、信号値を算出する画素の中心に対して当該欠陥素子と対称に位置する対角検出素子の出力信号の加算率とを、同一かつ他の検出素子の加算率よりも低い値となるように決定し、他の前記検出素子の加算率を略同一の値となるように決定するX線検出器。

IPC (2件)：

A61B 6/03 ( 200 6.01) ,  A61B 6/00 ( 200 6.01)

FI (5件)：

A61B 6/03 320 Q ,  A61B 6/03 350 H ,  A61B 6/03 373 ,  A61B 6/00 333 ,  A61B 6/03 350 D

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 放射線撮影システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2013-198436   出願人：富士フイルム株式会社
• 画像撮影装置、画像撮影方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2011-096825   出願人：株式会社日立メディコ