特許

J-GLOBAL ID：201903013400705809

不具合要因探索装置

発明者： 前田 太一
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-051915
公開番号（公開出願番号）：特開2019-164580
出願日： 2018年03月20日
公開日（公表日）： 2019年09月26日
要約：

【課題】 不具合の要因候補を因果関係より洗い出すとともに、不具合へのトレードオフを考慮し、不具合要因候補を提示して、迅速に不具合要因を抽出する不具合要因探索装置を提供する。【解決手段】 製品を構成する設計パラメータとその設計パラメータに対応する製品の性能を取得する取得部と、取得された性能に対する設計パラメータの感度を解析する感度解析部と、解析した結果に基づいて、取得した設計パラメータに優先度を付与し、出力する優先度付与出力部と、を有し、優先度付与出力部は、ある設計パラメータを変動させた場合に単一の不具合のみが解消されるか、複数の不具合が解消されるか、他の性能が悪化しないかによって、優先度を変える構成とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

製品を構成する設計パラメータと前記設計パラメータに対応する製品の性能を取得する取得部と、 取得された前記性能に対する設計パラメータの感度を解析する感度解析部と、 解析した結果に基づいて、取得した前記設計パラメータに優先度を付与し、出力する優先度付与出力部と、を有し、 前記優先度付与出力部は、ある設計パラメータを変動させた場合に単一の不具合のみが解消されるか、複数の不具合が解消されるか、他の性能が悪化しないかによって、優先度を変える、ことを特徴とする不具合要因探索装置。

IPC (3件)：

G05B 19/418 ,  G05B 23/02 ,  G06Q 50/04

FI (3件)：

G05B19/418 Z ,  G05B23/02 T ,  G06Q50/04

Fターム (12件)：

3C100AA58 ,  3C100BB01 ,  3C100BB11 ,  3C100BB27 ,  3C223BA01 ,  3C223CC01 ,  3C223DD01 ,  3C223FF31 ,  3C223GG01 ,  3C223HH02 ,  3C223HH29 ,  5L049CC03