特許
J-GLOBAL ID:201903014651206891

工具測定装置およびワーク測定装置の校正方法、校正装置ならびに標準器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 青木 篤 ,  三橋 真二 ,  伊藤 公一 ,  伊藤 健太郎
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-012890
公開番号(公開出願番号):特開2019-132612
特許番号:特許第6559274号
出願日: 2018年01月29日
公開日(公表日): 2019年08月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 NC装置によって制御される工作機械のテーブルに取り付けられ、工具の寸法を測定するための工具測定エレメントと、工作機械の主軸に取り付けられ、テーブルに取り付けられたワークの寸法を測定するためのワーク測定エレメントとを有した工具測定装置およびワーク測定装置の校正方法において、 寸法が既知の基準工具を主軸に取り付け、寸法が既知の標準器をテーブルに取り付けて、両者を接触させ、前記標準器の変形が要求する測定精度以下の変形量で両者の接触を検出し、そのときの前述工作機械の送り軸の座標を読み取る第1ステップと、 前記基準工具を前記工具測定エレメントにアプローチさせ、前記工具測定エレメントが反応したときの座標を読み取る第2ステップと、 主軸に前記ワーク測定エレメントを取り付け、前記標準器に接触させ、前述標準器が反応したときの座標を読み取る第3ステップと、 前記第1、第2および第3ステップで読み取った座標と、前記基準工具および標準器の既知の寸法とに基づいて、前記工具測定装置および前記ワーク測定装置を校正する第4ステップと、 を含み、前記工具測定装置の校正と、前記ワーク測定装置の校正を共通の前記標準器を用いて行うことを特徴とした工具測定装置およびワーク測定装置の校正方法。
IPC (3件):
G01B 5/00 ( 200 6.01) ,  B23Q 17/22 ( 200 6.01) ,  B23Q 17/24 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01B 5/00 P ,  B23Q 17/22 D ,  B23Q 17/24 C
引用特許:
審査官引用 (1件)

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