特許
J-GLOBAL ID:201903015089769086

被検体をX線撮像する装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人M&Sパートナーズ
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-528002
公開番号(公開出願番号):特表2019-505251
出願日: 2016年11月21日
公開日(公表日): 2019年02月28日
要約:
本発明は、被検体をX線撮像する装置に関するものである。X線の検出に関するデータを供給する(20)ことが記載されており、その場合において、X線検出器はX線源に対して、X線源とX線検出器との間の領域の少なくとも一部が被検体を収容する検査領域となるように配置されるよう構成される。X線干渉計装置は、上記検査領域に対して位置決めされるように構成される。被検体の少なくとも一部を介して透過されたX線放射に対して、少なくとも1つのX線暗視野係数及び少なくとも1つの透過係数が決定される。被検体の上記少なくとも一部に向けて放出されるべきX線放射の強度が、上記の決定された少なくとも1つの暗視野係数及び上記の決定された少なくとも1つの透過係数の関数として制御される。
請求項(抜粋):
被検体をX線撮像する装置であって、 X線源と、 X線干渉計装置と、 X線検出器と、 処理ユニットと、を有し、 前記X線検出器は、前記X線源に対して該X線源と当該X線検出器との間の領域の少なくとも一部が被検体を収容する検査領域となるように配置されると共に、前記処理ユニットに前記X線干渉計装置を少なくとも部分的に通過したX線放射の検出に関するデータを供給し、 前記X線干渉計装置は、前記X線源と前記検査領域との間又は前記X線検出器と前記検査領域との間に配置され、 前記処理ユニットは、前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つの透過係数を決定すると共に、前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つの暗視野係数を決定し、 前記処理ユニットは、前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の強度を、決定された前記少なくとも1つの透過係数及び決定された前記少なくとも1つの暗視野係数の関数として自動的に制御する、 装置。
IPC (3件):
A61B 6/00 ,  A61B 6/06 ,  G01N 23/041
FI (6件):
A61B6/00 330Z ,  A61B6/00 320Z ,  A61B6/00 300J ,  A61B6/00 300S ,  A61B6/06 330 ,  G01N23/041
Fターム (31件):
2G001AA01 ,  2G001BA14 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA02 ,  2G001GA06 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001LA01 ,  2G001SA02 ,  2G188AA03 ,  2G188AA25 ,  2G188BB02 ,  2G188DD05 ,  2G188DD20 ,  4C093AA07 ,  4C093CA01 ,  4C093DA03 ,  4C093EA02 ,  4C093EA11 ,  4C093EA12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EB24 ,  4C093EC15 ,  4C093EC34 ,  4C093FA15 ,  4C093FA56 ,  4C093FA59

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